[发明专利]分光分析控制装置、分光分析装置、分光分析控制方法以及分光分析控制程序有效
申请号: | 201880088373.5 | 申请日: | 2018-03-01 |
公开(公告)号: | CN111670347B | 公开(公告)日: | 2023-02-17 |
发明(设计)人: | 石垣雅基 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01J3/02 | 分类号: | G01J3/02 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分光 分析 控制 装置 方法 以及 控制程序 | ||
控制显示部,使得依次显示与在定量中以预先确定的顺序依次执行的多个工序分别对应的多个参数设定画面,并显示与多个工序分别对应的多个工序指标。在多个参数设定画面中,受理与多个工序分别对应的多个参数的输入。每当在各参数设定画面中的参数的输入的受理完成时,将已被受理的该参数设定为不可变更。控制显示部,使得每当在一个参数设定画面中设定参数时,显示下一个参数设定画面,并且将多个工序指标中的与正显示的参数设定画面对应的工序指标以能够从其它工序指标识别出的方式进行显示。基于所设定的参数来控制分光光度计。由定量执行部基于所设定的多个参数进行试样的定量。
技术领域
本发明涉及一种进行试样的分析的分光分析控制装置、分光分析装置、分光分析控制方法以及分光分析控制程序。
背景技术
在分光分析装置中,对浓度已知的多个标准试样的光吸收量或发光量等(以下,以光吸收量为例进行说明。)进行测定。由此,制作表示多个标准试样的光吸收量与浓度的对应关系的校准曲线。之后,测定浓度未知的未知试样的光吸收量。基于测定出的未知试样的光吸收量和制作出的校准曲线,对未知试样的浓度进行定量。在进行上述的测定时,使用者对分光分析装置设定恰当的测定条件。
在专利文献1中,记载了一种能够在全部参数模式和部分参数模式下选择性地输入测定参数(测定条件)的分光光度计。全部参数模式供充分熟悉测定参数的使用者选择,用于受理多个测定参数(“单位”、“波长”、“测光值范围”、“狭缝宽度”以及“累计次数”)的输入。部分参数模式供没有充分理解测定参数的用户选择,用于受理仅所需最小限度的基本测定参数(“单位”和“波长”)的输入。
专利文献1:日本特开平8-233729号公报
发明内容
近年来,开发了如下一种分光分析装置:不仅输入测定条件,还依次输入标准试样的浓度、标准试样的光吸收量以及未知试样的光吸收量等,由此自动地制作校准曲线,对未知试样的浓度进行定量。然而,在这样的分光分析装置中,由于设定项目涉及多方面,因此对于不熟练的使用者来说,不易于理解必须以怎样的顺序输入哪个设定项目。另外,即使是熟练的使用者,有时也不知道将设定项目的输入推进到哪个阶段。
特别是在单机形式的分光分析装置中,小型的操作面板被搭载于分光分析装置。在该情况下,由于在操作面板上只能同时显示1~2个左右的少数的设定项目,因此使用者需要每次切换操作面板的显示画面以输入多个设定项目。因此,上述问题更加明显。另外,在不知道设定项目的输入阶段时,使用者必须多次切换显示画面来进行确认。因而,期望一种进一步提高操作性的分光分析装置。
本发明的目的在于提供一种操作性提高的分光分析控制装置、分光分析装置、分光分析控制方法以及分光分析控制程序。
(1)本发明的一个方面所涉及的分光分析控制装置与进行试样的分光测定的分光光度计连接,并且基于从显示部输入的参数来进行试样的定量,所述分光分析控制装置具备:显示控制部,其在显示部中依次显示与在定量中以预先确定的顺序依次执行的多个工序分别对应的多个参数设定画面,并且在显示部中显示与多个工序分别对应的多个工序指标;参数受理部,其在多个参数设定画面中受理与多个工序分别对应的多个参数的输入;参数设定部,每当在各参数设定画面中的参数的输入的受理完成时,将已被受理的该参数设定为不可变更;分析控制部,其基于由参数设定部设定的参数来控制分光光度计;以及定量执行部,其基于由参数设定部设定的多个参数来进行试样的定量,其中,显示控制部控制显示部,使得每当在一个参数设定画面中由参数设定部设定参数时,显示下一个参数设定画面,并且控制显示部,使得将多个工序指标中的与显示部中正显示的参数设定画面对应的工序指标以能够从其它工序指标识别出的方式进行显示。
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