[发明专利]用于纱线质量监测的装置和方法在审
申请号: | 201880088432.9 | 申请日: | 2018-12-24 |
公开(公告)号: | CN111670358A | 公开(公告)日: | 2020-09-15 |
发明(设计)人: | 彼得·佩纳;约瑟夫·苏斯卡;翁德热·泽林卡 | 申请(专利权)人: | 彼得·佩纳;约瑟夫·苏斯卡;翁德热·泽林卡 |
主分类号: | G01N21/89 | 分类号: | G01N21/89;B65H63/06;D01H13/32;G01B11/10;G01N33/36 |
代理公司: | 北京允天律师事务所 11697 | 代理人: | 高源;李建航 |
地址: | 捷克切*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 纱线 质量 监测 装置 方法 | ||
1.一种纱线质量监测装置,所述装置包括:
初级光源(2),所述初级光源(2)用于发射光,所述初级光源(2)的光传播限定光路径(100);
靠近所述第一光源(2)的漫射器(5),所述漫射器(5)用于漫射所发射的光;
图像传感器(3),从所述初级光源(2)发射的经漫射的光照射所述图像传感器(3),以便根据对所述光路径(100)中的移动的纱线(1)的照射捕获纱线轮廓图像;
聚焦元件(6),所述聚焦元件(6)在所述光路径(100)中且位于所述第一光源(2)与所述图像传感器(3)之间,用于将所述纱线轮廓图像聚焦在所述图像传感器上;以及
控制器(4),所述控制器(4)与所述图像传感器(3)功能性通信,以处理所捕获的纱线轮廓图像从而提供对移动的所述纱线(1)的纱线直径的测量。
2.根据权利要求1所述的装置,还包括:
次级光源(7),所述次级光源(7)用于照射移动的所述纱线(1),被反射的光沿所述光路径(100)的前部部分传播;
衍射元件(8),所述衍射元件(8)在所述光路径(100)的所述前部部分中且位于所述纱线(1)与所述图像传感器(3)之间;来自所述次级光源的从所述纱线(1)反射的光的衍射用于在所述图像传感器(3)上产生干涉图案;
其中,所述控制器(4)被配置成也处理所述干涉图案,以获得纱线颜色分析。
3.根据权利要求2所述的装置,其中,所述衍射元件(8)是衍射光栅。
4.根据权利要求2或3所述的装置,其中,所述初级光源(2)和所述次级光源(7)被设计成发射不同波长的光,并且所述装置还包括滤光器(9),所述滤光器(9)至少部分地覆盖所述图像传感器(3)以便阻挡在所述纱线(1)被所述次级光源(7)照射时从所述纱线(1)反射的光。
5.根据权利要求2至4中的一项所述的装置,其中,所述次级光源(7)发射更多种类型的光,包括单色光、RGB光、白光、UV光或IR光中的一种光或更多种光。
6.根据权利要求1至5中的一项所述的装置,其中,所述聚焦元件(6)包括选自于包含非球面透镜、镜式透镜、凸透镜和凹透镜的组的一个或更多个透镜。
7.根据权利要求1至6中的一项所述的装置,其中,所述聚焦元件(6)包括M12x0.5封装中的一个或更多个透镜。
8.根据权利要求1至7中的一项所述的装置,其中,所述图像传感器(3)包括一行或更多行感光像素,优选地,所述图像传感器为CMOS型传感器或CCD装置。
9.根据权利要求1至8中的一项所述的装置,其中,所述图像传感器(3)包括限制广角光线的微透镜。
10.根据权利要求1至9中的一项所述的装置,其中,所述控制器(4)包括:
可编程逻辑阵列(36),所述可编程逻辑阵列(36)用于图像数据处理,以获得纱线直径和/或纱线颜色分析;
光控制电路(35),所述光控制电路(35)与所述可编程逻辑阵列(36)通信以由所述可编程逻辑阵列(36)控制;以及
与所述可编程逻辑阵列(36)通信的微控制器(30),所述微控制器(30)被编程为根据经处理的图像数据评估或测量纱线均匀度和/或纱线异性纤维含量。
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