[发明专利]显示装置及其缺陷像素修复方法

说明书

显示装置具有其中分别包含驱动晶体管与电光学元件的多个像素。缺陷像素修复方法包括如下步骤：通过对形成于不同配线层且具有隔着绝缘膜在俯视时彼此重叠的部分的两条配线的重叠部分照射激光，使两条配线短路，从而将缺陷像素内的电光学元件的阳极电极与邻接的相同颜色的正常像素内的电光学元件的阳极电极电性连接的步骤；以及在缺陷像素中，将驱动晶体管与电光学元件电性切断的步骤。由此，能够容易地修复缺陷像素。

技术领域

本发明涉及一种显示装置，尤其涉及一种具有包含电光学元件的像素的显示装置及其缺陷像素修复方法。

背景技术

近年来，具备其中包含有机电致发光(Electro Luminescence：以下，称为EL)元件的像素的有机EL显示装置已经投入实际使用。有机EL显示装置的像素包含有有机EL元件和驱动晶体管。有机EL元件是电光学元件的一种，其以与流过的电流量相对应的亮度发光。驱动晶体管与有机EL元件串联设置，并且控制流过有机EL元件的电流量。像素内的晶体管使用薄膜晶体管(Thin Film Transistor：以下称为TFT)。

在有机EL显示装置的制造工序中，在像素中发生缺陷。缺陷像素的亮度与正常像素的亮度不同。因此，在有机EL显示装置的检查工序中，进行例如基于施加检查用图案时的显示图像来检测缺陷像素的处理。此外，为了使缺陷像素不那么引人注目，有时进行将缺陷像素的颜色固定为黑色的处理(以下称为黑点化)。黑点化例如通过从像素电极分离有机EL元件的发光区域的方法、将有机EL元件的发光区域与驱动晶体管切断的方法来进行。

在小型有机EL显示装置中，由于像素数少，因此缺陷像素数也少。因此，通过黑点化使缺陷像素不那么引人注目，从而可以将有机EL显示装置作为良品来出货。另一方面，在中型或大型的有机EL显示装置中，由于像素数多，因此缺陷像素数也多。因此，即使通过黑点化使缺陷像素不那么引人注目，有机EL显示装置也有可能无法作为良品来出货。由此，在中型或大型的有机EL显示装置中，优选修复缺陷像素。

关于修复缺陷像素，以往已知有各种方法。在专利文献1中记载了一种制造显示装置的方法，其为在形成显示元件之前检测到开关晶体管的不良时，将从电源供给线到不良的开关晶体管的电流路径断线，并且以覆盖像素的方式在基板上形成钝化膜，使用钝化膜来接线已断线的开关晶体管的第二电极和邻接像素的驱动晶体管的第二电极。在专利文献2中记载了一种图像显示装置的修复方法，其为在形成驱动电路层时，在缺陷像素内的驱动晶体管的栅极端子的表面和正常像素内的驱动晶体管的栅极端子的表面上形成开口部，并且经由两个开口部形成直接连接两个驱动晶体管的栅极端子的跳线。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本国特开2008-262013号公报

专利文献2：日本国特开2010-249883号公报

发明内容

本发明所要解决的技术问题

然而，在以往的缺陷像素修复方法中，由于在形成像素的期间检测缺陷像素并形成钝化膜或跳线，因此存在难以实施或成本高等问题。

因此，提出以提供一种可以容易实施的显示装置的缺陷像素修复方法为课题。

解决问题的方案

上述问题可以通过如下缺陷像素修复方法来解决，例如，一种具有其中分别包含驱动晶体管与电光学元件的多个像素的显示装置的缺陷像素修复方法，缺陷像素修复方法的特征在于，包括如下步骤：通过对形成于不同配线层且具有隔着绝缘膜在俯视时彼此重叠的部分的两条配线的重叠部分照射激光，使两条配线短路，从而将缺陷像素内的电光学元件的阳极电极与邻接的相同颜色的正常像素内的电光学元件的阳极电极电性连接的步骤；以及在缺陷像素中，将驱动晶体管与电光学元件电性切断的步骤。

发明效果