[发明专利]检查装置、PTP包装机与检查方法

权利要求书

1.一种检查装置，该检查装置包括：

照射机构，该照射机构能对规定的对象物照射近红外光；

分光机构，该分光机构能对从照射有上述近红外光的上述对象物反射的反射光进行分光；

摄像机构，该摄像机构能对通过上述分光机构分光的上述反射光所相关的分光光谱进行摄像；

光谱数据获得机构，该光谱数据获得机构能根据通过上述摄像机构获得的上述分光图像数据，获得该对象物所相关的光谱数据；

分析机构，该分析机构能根据上述光谱数据，进行规定的分析处理；

该检查装置在下述的场合，利用分光分析进行规定的检查，该场合指，在形成于容器膜中的袋部中接纳规定的内容物，按照将该袋部封闭的方式安装罩面膜的PTP片的制造的场合；

其特征在于，该检查装置包括：

散射数据把握机构，该散射数据把握机构在至少进行上述检查的前阶段，能将从上述照射机构照射到规定的散射因素而产生的散射光所造成的上述内容物的光谱数据或近似于它的光谱数据作为散射数据而把握；

补偿机构，该补偿机构根据上述散射数据，对下述的光谱数据或判断值进行补偿，该光谱数据指，在进行上述检查时，对接纳于上述袋部中的被检查内容物进行摄像而获得的光谱数据，该判断值指用于判断该光谱数据的场合所使用的判断值。

2.根据权利要求1所述的检查装置，其特征在于，上述散射数据把握机构按照能进行下述的处理的方式构成，该处理包括：

获得在接纳于上述袋部中的状态被摄像的多个合格内容物的光谱数据的处理；

根据上述多个合格内容物的光谱数据，指定没有上述散射光的影响或该影响小的第1光谱数据的处理；

根据上述多个合格的内容物的光谱数据，指定具有上述散射光的影响或该影响大的第2光谱数据的处理；

根据上述第1光谱数据与上述第2光谱数据的差，指定上述散射数据的处理。

3.根据权利要求1所述的检查装置，其特征在于：

上述补偿机构按照在进行上述补偿时，能进行下述的处理的方式构成，该处理包括：

将上述散射数据与规定的系数相乘的处理；

从对上述被检查内容物进行摄像而获得的光谱数据中，扣除上述相乘而获得的值的处理；

将通过上述扣除而获得的值与上述第1光谱数据的差最小的上述系数作为补偿系数而指定的处理；

根据上述补偿系数和上述散射数据，对摄像上述被检查内容物而获得的光谱数据进行补偿的处理。

4.根据权利要求1～3中任一项所述的检查装置，其特征在于，上述照射机构设置于能越过上述袋部，对上述内容物照射近红外光的位置；

上述摄像机构设置于能越过上述袋部，对来自上述内容物的反射光的分光光谱进行摄像的位置。

5.一种PTP包装机，该PTP包装机用于制造PTP片，在该PTP片中，在容器膜所形成的袋部中接纳规定的内容物，按照封闭该袋部的方式安装罩面膜，其特征在于，该PTP包装机包括：

袋部形成机构，该袋部形成机构在呈带状运送的上述容器膜上形成上述袋部；

填充机构，该填充机构在上述袋部中填充上述内容物；

安装机构，该安装机构对上述袋部中填充有上述内容物的上述容器膜，按照密封上述袋部的方式安装带状的上述罩面膜；

切分机构，该切分机构从于上述容器膜上安装有上述罩面膜的带状体上，切分上述PTP片；

权利要求1～4中任一项所述的检查装置。

6.一种检查方法，该检查方法采用下述检查装置，该检查装置包括：

照射机构，该照射机构能对规定对象物照射近红外光；

分光机构，该分光机构能对从照射有上述近红外光的上述对象物反射的反射光进行分光；

摄像机构，该摄像机构能对通过上述分光机构分光的上述反射光的分光光谱进行摄像；

光谱数据获得机构，该光谱数据获得机构能根据通过上述摄像机构获得的上述分光图像数据，获得该对象物所相关的光谱数据；

分析机构，该分析机构能根据上述光谱数据，进行规定的分析处理；

同时，在下述的场合，利用分光分析进行规定的检查，该场合指，在形成于容器膜中的袋部中接纳规定的内容物，按照将该袋部封闭的方式安装罩面膜而得到的PTP片的制造的场合，

其特征在于，该方法包括：

散射数据把握步骤，在该散射数据把握步骤中，至少在进行上述检查的前阶段，能将散射光造成的上述内容物的光谱数据或近似于它的光谱数据作为散射数据而把握，该散射光因从上述照射机构照射到规定散射因素而产生；

补偿步骤，在该补偿步骤中，根据上述散射数据，对下述的光谱数据或判断值进行补偿，该光谱数据指在进行上述检查时，对接纳于上述袋部中的被检查内容物进行摄像而获得的光谱数据，该判断值指用于判断该光谱数据的场合。