[发明专利]驱动方法以及显示装置

说明书

本发明所涉及的驱动方法包括：对象行决定步骤(S102)，决定对象像素所属的对象行，所述对象像素是检测上述驱动晶体管以及上述电光学元件的至少一方的特性的对象像素；亮度计算步骤(S104)，计算上述对象行的像素的代表亮度；以及检测判断步骤(S106、S108)，在上述代表亮度为阈值以上的情况下，执行特性检测步骤，在所述特性检测步骤中，对表示属于上述对象行的像素的驱动晶体管以及电光学元件的至少一方的特性的监视数据进行检测，在上述代表亮度不足阈值的情况下，跳过上述特性检测步骤。

技术领域

本发明涉及显示装置的驱动方法以及显示装置。

背景技术

以往，进行使用了有机EL(Electro Luminescence)元件(也被称为OLED(OrganicLight-Emitting Diode))的显示装置的开发。

在这样的显示装置中，作为驱动晶体管，通常采用薄膜晶体管(TFT)。然而，针对薄膜晶体管，其特性容易产生不一致。具体而言，阈值电压、迁移率容易产生不一致。若在设置于显示部内的驱动晶体管产生阈值电压、迁移率的不一致，则产生亮度的不一致，因此显示品质降低。另外，关于有机EL元件，随着时间的经过，电流效率(发光效率)降低。因此，即便恒定电流向有机EL元件供给，亮度也随着时间的经过而慢慢降低。

作为针对上述那样的问题的对应，专利文献1公开以下方法，以一秒钟一个的比例显示检查图案的帧而进行电流测定，进行OLED的驱动修正。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本公开专利公报“日本特开2005-107059号(2005年04月21日公开)”

发明内容

本发明所要解决的技术问题

然而，在上述那样的技术中，存在因检查产生的OLED的发光容易被视听者视认这样的问题。

本发明是鉴于上述课题而完成的，其目的在于提供因检查产生的OLED的发光不易被视认的技术。

解决问题的方案

为了解决上述课题，一实施方式所涉及的显示装置的驱动方法为具有n行×m列的像素矩阵的显示装置的驱动方法，上述n行×m列的像素矩阵具备n×m个(n以及m是2以上的整数)像素电路，上述n×m个像素电路分别包括：电光学元件，其通过电流控制亮度；以及驱动晶体管，其用于控制要供给于上述电光学元件的电流，上述显示装置具备：扫描线，其按每个上述行设置；监视线，其按每个上述行设置；以及数据线，其按每个上述列设置，该驱动方法包括：对象行决定步骤，决定对象像素所属的对象行，所述对象像素是检测上述驱动晶体管以及上述电光学元件的至少一方的特性的对象像素；亮度计算步骤，计算上述对象行的像素的代表亮度；以及检测判断步骤，在上述代表亮度为阈值以上的情况下，执行特性检测步骤，在所述特性检测步骤中对表示属于上述对象行的像素的驱动晶体管以及电光学元件的至少一方的特性的监视数据进行检测，在上述代表亮度不足阈值的情况下，跳过上述特性检测步骤。

另外，一实施方式所涉及的显示装置为具有n行×m列的像素矩阵的显示装置，上述n行×m列的像素矩阵具备n×m个(n以及m是2以上的整数)像素电路，上述n×m个(n以及m是2以上的整数)像素电路分别包括：电光学元件，其通过电流控制亮度；以及驱动晶体管，其用于控制要供给于上述电光学元件的电流，上述显示装置具备：扫描线，其按每个上述行设置；监视线，其按每个上述行设置；数据线，其按每个上述列设置；控制部，所述控制部决定对象像素所属的对象行，所述对象像素是检测上述驱动晶体管以及上述电光学元件的至少一方的特性的对象像素，所述控制部计算上述对象行的像素的代表亮度，在上述代表亮度为阈值以上的情况下，所述控制部执行特性检测步骤，在所述特性检测步骤中对表示属于上述对象行的像素的驱动晶体管以及电光学元件的至少一方的特性的监视数据进行检测，在上述代表亮度不足阈值的情况下，所述控制部跳过上述特性检测步骤。