[发明专利]到达波数推定装置及到达波数到达方向推定装置有效
申请号: | 201880093067.0 | 申请日: | 2018-05-07 |
公开(公告)号: | CN112136057B | 公开(公告)日: | 2023-05-23 |
发明(设计)人: | 大岛正资;合田雄一;铃木信弘 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | G01S3/46 | 分类号: | G01S3/46;G01S13/931 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 熊风;宋俊寅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 到达 推定 装置 方向 | ||
1.一种到达波数推定装置,其特征在于,包括:
阵列天线,该阵列天线具有多个单元天线,接收从作为目标的电波源放射出的信号;
子阵列空间平均部,该子阵列空间平均部将所述阵列天线的接收信号分割为多个不同形状的子阵列,计算不同形状的每个子阵列的相关矩阵,并对这些相关矩阵进行空间平均;
特征值展开部,该特征值展开部对由所述子阵列空间平均部求出的空间平均后的多个不同形状的子阵列各自的相关矩阵进行特征值展开;以及
波数推定部,该波数推定部通过对由所述特征值展开部求出的多个不同形状的子阵列各自的特征值进行整合来推定到达波数。
2.如权利要求1所述的到达波数推定装置,其特征在于,
所述波数推定部根据对多个不同形状的子阵列各自的特征值进行加权平均之后的特征值分布来推定波数。
3.如权利要求1所述的到达波数推定装置,其特征在于,
所述波数推定部求出多个不同形状的子阵列各自的特征值在每个单元天线间的比值,之后针对每个子阵列比较这些比值,将最小或最大的值与阈值进行比较来推定波数。
4.一种到达波数推定装置,其特征在于,包括:
阵列天线,该阵列天线具有多个单元天线,接收从作为目标的电波源放射出的信号;
第一子阵列空间平均部,该第一子阵列空间平均部将所述阵列天线的接收信号分割为多个不同形状的子阵列,计算不同形状的每个子阵列的相关矩阵,并对这些相关矩阵进行空间平均;
第一特征值展开部,该第一特征值展开部对由所述第一子阵列空间平均部求出的空间平均后的多个不同形状的子阵列各自的相关矩阵进行特征值展开;
第一波数推定部,该第一波数推定部通过对由所述第一特征值展开部求出的多个不同形状的子阵列各自的特征值进行整合来推定到达波数;
波数判定部,该波数判定部判定由所述第一波数推定部推定出的到达波数是否超过了设定的阈值;
第二子阵列空间平均部,该第二子阵列空间平均部在所述波数判定部中到达波数超过了所述阈值时,分割为单元数比由所述第一子阵列空间平均部分割出的子阵列要多的子阵列来进行相关矩阵的空间平均;
第二特征值展开部,该第二特征值展开部进行由所述第二子阵列空间平均部求出的相关矩阵的特征值展开;以及
第二波数推定部,该第二波数推定部通过对由所述第二特征值展开部求出的多个子阵列的特征值进行整合来推定到达波数,
在所述波数判定部的判定中到达波数为所述阈值以下时,输出由所述第一波数推定部推定出的到达波数。
5.一种到达波数到达方向推定装置,其特征在于,包括:
阵列天线,该阵列天线具有多个单元天线,接收从作为目标的电波源放射出的信号;
第一子阵列空间平均部,该第一子阵列空间平均部将所述阵列天线的接收信号分割为多个不同形状的子阵列,计算不同形状的每个子阵列的相关矩阵,并对这些相关矩阵进行空间平均;
第一特征值展开部,该第一特征值展开部对由所述第一子阵列空间平均部求出的空间平均后的多个不同形状的子阵列各自的相关矩阵进行特征值展开;
第一波数推定部,该第一波数推定部通过对由所述第一特征值展开部求出的多个不同形状的子阵列各自的特征值进行整合来推定到达波数;
波数判定部,该波数判定部判定由所述第一波数推定部推定出的到达波数是否超过了设定的阈值;
第一到达方向推定部,该第一到达方向推定部在所述波数判定部中到达波数为所述阈值以下时,利用由所述第一波数推定部求出的到达波数的推定值来推定到达方向;
第二子阵列空间平均部,该第二子阵列空间平均部在所述波数判定部中到达波数超过了所述阈值时,分割为单元数比由所述第一子阵列空间平均部分割出的子阵列要多的子阵列来进行相关矩阵的空间平均;
第二特征值展开部,该第二特征值展开部进行由所述第二子阵列空间平均部求出的相关矩阵的特征值展开;
第二波数推定部,该第二波数推定部通过对由所述第二特征值展开部求出的多个子阵列的特征值进行整合来推定到达波数;以及
第二到达方向推定部,该第二到达方向推定部基于由所述第二波数推定部求出的到达波数的推定值,利用高分辨率到达方向推定法来推定到达方向。
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