[发明专利]荧光X射线分析装置以及荧光X射线分析方法有效
申请号: | 201880093239.4 | 申请日: | 2018-06-08 |
公开(公告)号: | CN112105919B | 公开(公告)日: | 2023-08-22 |
发明(设计)人: | 斋藤佑多 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 荧光 射线 分析 装置 以及 方法 | ||
利用旋转驱动装置使支承部和准直器绕旋转轴相对地旋转。准直器具有屏蔽X射线的屏蔽区域和使X射线透过的透过区域。透过区域具有位于旋转轴上的顶点,透过区域的周向上的长度从顶点朝向外部成比例地增加。利用X射线源使X射线通过准直器的透过区域地向由支承部支承的试样照射,利用检测器检测来自试样的荧光X射线。基于由检测器检测到的荧光X射线来进行试样的组成的分析。
技术领域
本发明涉及一种通过荧光X射线来进行试样的分析的荧光X射线分析装置以及荧光X射线分析方法。
背景技术
在荧光X射线分析装置中,通过从X射线源向试样照射X射线来激发试样,从试样放出荧光X射线。从试样放出的荧光X射线的每单位时间的光子数(以下简称为光子数。)由检测器检测。检测器输出表示被检测出的光子数的检测信号。基于由检测器输出的检测信号来进行试样中含有的元素的分析。
检测信号不饱和就能够检测的光子数存在限制。因此,即使在使由X射线源射出的X射线的强度(剂量)最小的情况下,检测信号有时也会饱和。为了防止这种情况,在X射线源与试样之间配置被称为准直器的构件。准直器是具有开口部的板状构件,通过屏蔽从X射线源射出的X射线的一部分来使向试样照射的X射线衰减。
另一方面,在专利文献1中记载了一种X射线减少系统,该X射线减少系统不是在使用荧光X射线的分析技术领域中使用,而是在医疗领域中使用。在该X射线减少系统中,X射线源被配置在使X射线透过的床的下方,准直器被配置在床的上方,在准直器的上方配置图像增强器。准直器具有圆板形状,在准直器的中央形成圆形孔径。患者躺在床上,操作者在患者的旁边。
响应操作者的操作而从X射线源向上方的患者照射X射线。照射到患者的X射线的一部分通过准直器的圆形孔径而到达图像增强器。基于到达图像增强器的X射线来生成在关注区域具有高图像质量的图像。另外,X射线的另一部分被准直器的除圆形孔径以外的部分屏蔽,由此减少对在患者的周围的操作者的辐射。
专利文献1:日本特表2016-501656号公报
发明内容
与此相对地,在使用了荧光X射线的分析技术领域中,如果向试样照射的X射线的强度在空间上不均匀,则无法准确地分析试样整体的组成。特别是在对含有不均匀地分布的元素的试样进行分析时,该问题更加明显。因此,要求使向试样照射的X射线在空间上均匀地衰减。
本发明的目的在于提供一种能够使向试样照射的X射线在空间上均匀地衰减的荧光X射线分析装置以及荧光X射线分析方法。
(1)本发明的一个方面所涉及的荧光X射线分析装置具备:支承部,其用于支承作为分析对象的试样;准直器,其具有屏蔽X射线的屏蔽区域和使X射线透过的透过区域;X射线源,其使X射线通过准直器的透过区域地向由支承部支承的试样照射;旋转驱动装置,其使支承部和准直器绕旋转轴相对地旋转;检测器,其检测来自由支承部支承的试样的荧光X射线;以及分析执行部,其基于由检测器检测到的荧光X射线来进行试样的组成的分析,其中,透过区域具有位于旋转轴上的顶点,透过区域的周向上的长度从顶点朝向外部成比例地增加。
在该荧光X射线分析装置中,利用旋转驱动装置使支承部和准直器绕旋转轴相对地旋转。利用X射线源使X射线通过准直器的透过区域地向由支承部支承的试样照射,利用检测器检测来自试样的荧光X射线。基于由检测器检测到的荧光X射线来进行试样的组成的分析。
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