[发明专利]谱数据处理装置以及分析装置

说明书

一种质谱分析装置用数据处理装置，以在由试样中含有的成分确定的规定位置处具有峰顶的谱为对象，基于从含有已知的互不相同的浓度的规定成分的多个试样分别得到的谱，来制作表示各试样中的所述成分的浓度与该试样的谱的对应于该成分的峰的面积的关系的校准曲线，该质谱分析装置用数据处理装置具备：显示部(29)，其具有谱显示区域(291)和校准曲线显示区域(292)；谱显示控制部(23)，其在谱显示区域(291)中显示一个或多个所述谱；峰范围设定部(24)，其用于使操作者设定所显示的所述谱中包含的与所述成分对应的峰的两端的位置或基线的位置；峰范围决定部(25)，其根据规定的基准来决定所述峰的两端的位置或基线的位置；面积计算部(26)，其基于由峰范围设定部(24)设定的或由峰范围决定部(25)决定的峰的两端的位置以及基线的位置，来计算所述峰的面积；以及校准曲线制作部，其基于由面积计算部(26)计算出的所述峰的面积以及该峰的已知浓度来制作校准曲线，并将所述校准曲线显示在校准曲线显示区域(292)中。

技术领域

本发明涉及一种谱数据处理装置以及分析装置，其中，所述谱数据处理装置用于使用由质谱分析装置得到的质谱或者由红外分光光度计、拉曼分光光度计等分光光度计得到的分光谱等在由试样中含有的成分确定的规定位置处具有峰顶的谱来对试样中的特定成分进行定量，所述分析装置具备获取该谱的分析部以及该谱数据处理装置。

背景技术

以往，使用由质谱分析装置获取到的质谱对试样中含有的成分进行定量。例如，在求出生物体组织切片等试样的表面的成分的分布的情况下，根据对该表面的多个测定点(微小区域)分别进行质谱分析而得到的质谱来求出每个测定点的成分的量(浓度)。每个测定点的质谱分析例如存在以下方法：向测定点照射激光，对由此生成的离子进行分析(例如参照专利文献1)；以及对通过使探针接触测定点并施加高电压而生成的离子进行分析(专利文献2)。

关于由质谱分析装置获取到的质谱，理想的是应该按源自成分的离子的质荷比(正式来讲为斜体字符的“m/z”。由于电子申请的制约，以下用通常的字符记载为“m/z”。)的每个值得到强度的值，但实际上，成为以m/z的值为中心具有宽度的峰轮廓。例如，在飞行时间质谱分析装置中，以从离子被导入到质谱分析装置起直到被检测器检测到离子为止的时间为横轴，以检测强度为纵轴，来得到质谱，但即使是m/z为相同值的离子，也由于飞行方向的偏差等而检测时间产生差异，从而成为具有宽度的峰轮廓。在这样的质谱的情况下，与峰顶的高度相比，峰的面积更好地反映了源自具有与该峰对应的m/z的离子的成分的量。因而，通过按每个峰求出该峰的面积，能够高精度地进行与作为该峰的中心值的m/z对应的成分的定量。

在使用质谱进行试样中的特定成分的定量时，通常在紧挨着获取分析对象试样的质谱之前或之后，获取要进行定量的成分的浓度已知且该成分的浓度互不相同的多个标准试样的质谱，根据这些多个质谱分别求出与该成分对应的峰的面积，并制作表示浓度与面积的关系的校准曲线。然后，根据针对分析对象试样得到的质谱，求出与要进行定量的成分对应的峰的面积，并将其应用于校准曲线，由此能够求出该分析对象试样中的该成分的浓度。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特表2014-520259号公报

专利文献2：日本特开2014-044110号公报

发明内容

发明要解决的问题