[发明专利]触控面板检测方法与触控面板

权利要求书

1.一种触控面板检测方法，其特征在于，所述方法包括：

施加驱动信号至触控面板的多个触控驱动电极，并且自所述触控面板的多个触控感测电极获取感应信号，其中，所述多个触控驱动电极与所述多个触控感测电极构成多个检测单元；

检测自预设触控感测电极对应的所述检测单元获取到的目标感应信号，所述预设触控感测电极为所述多个触控感测电极中的至少一个；

对检测到的所述目标感应信号进行判断得到判断结果；

根据所述判断结果确定所述触控面板的状态，所述状态包括所述触控面板处于弯曲操作状态与触摸操作状态；

所述对检测到的所述目标感应信号进行判断得到判断结果并且根据所述判断结果确定所述触控面板的状态包括：

判断所述目标感应信号的第一参数是否小于第一阈值，所述第一阈值表征所述预设触控感测电极对应的检测单元所接收的感应信号的平均变化程度；

当所述第一参数小于所述第一阈值时，判断所述目标感应信号对应的第二参数是否位于第一阈值区间内，所述第一阈值区间表征所述预设触控感测电极产生的感应信号相较于所述多个触控感测电极中除所述预设触控感测电极之外的触控感测电极产生的感应信号的差值；

当所述第二参数在所述第一阈值区间内时，确定所述触控面板在所述预设触控感测电极的位置接收到弯曲操作处于所述弯曲操作状态；

当所述第一参数大于所述第一阈值或所述第二参数大于所述第一阈值区间时，确定所述触控面板在所述预设触控感测电极的位置接收到触摸操作处于所述触摸操作状态；

所述第一参数为预设触控感测电极对应的多个子目标感应信号的方差；

所述第二参数为第一参考值与第二参考值之差的绝对值；所述第一参考值为所述多个子目标感应信号的平均值，所述第二参考值为所述多个触控感测电极中除所述预设触控感测电极之外的触控感测电极对应的检测单元产生的多个感应信号的平均值。

2.根据权利要求1所述的触控面板检测方法，其特征在于，所述第一阈值区间为由第三参考值和第四参考值构成的区间范围。

3.根据权利要求2所述的触控面板检测方法，其特征在于，所述当所述第二参数在所述第一阈值区间内确定所述触控面板在所述预设触控感测电极的位置接收到弯曲操作还包括：

判定所述第二参数是否大于第三参考值；

当所述第二参数大于所述第三参考值时，判断所述第一参考值与所述第二参考值的大小；

当所述第一参考值小于第二参考值时，判定第二参数是否小于第四参考值；

当第二参数小于第四参考值时，确定所述触控面板在所述预设触控感测电极的位置接收到第一方向的弯曲操作，所述第一方向为相邻位置的所述预设触控感测电极相互远离的方向。

4.根据权利要求3所述的触控面板检测方法，其特征在于：

当所述第一参考值不小于所述第二参考值时，确定所述触控面板在所述预设触控感测电极的位置接收到第二方向的弯曲操作，所述第一方向与所述第二方向相反，其中，所述第二方向为相邻位置的所述预设触控感测电极相互靠近的方向。

5.根据权利要求2所述的触控面板检测方法，其特征在于，所述当所述第一参数大于所述第一阈值或所述第二参数大于所述第一阈值区间时，确定所述触控面板在所述预设触控感测电极的位置接收到触摸操作，包括：

当所述第一参数大于所述第一阈值，确定所述触控面板在所述预设触控感测电极的位置接收到单点触摸操作；

当所述第一参数小于所述第一阈值且所述第二参数大于所述第四参考值时，确定所述触控面板在所述预设触控感测电极的位置接收到多点手势触摸操作。

6.根据权利要求5所述的触控面板检测方法，其特征在于，当确定所述触控面板在所述预设触控感测电极的位置接收到单点触摸操作时，

判断所述目标感应信号是否满足报点算法，所述报点算法用于确定所述单点触摸操作或者多点手势触摸操作的触摸位置；

当所述目标感应信号满足所述触控面板的报点算法时，上报所述单点触摸操作或者多点手势触摸操作的触摸位置。