[发明专利]检查过程

权利要求书

1.一种检查过程，包括以下步骤：

-通过进口（2；61）向检查装置（3；62）提供至少一个要检查的容器（1；60）；

-识别所述至少一个容器（1；60）；

-将所述至少一个容器（1；60）的识别特征发送到控制系统（5；64）；

-检查所述至少一个容器（1；60）的本征缺陷、非本征缺陷和固有缺陷，所述本征缺陷、非本征缺陷和固有缺陷分别指容器中存在不期望颗粒、容器本身包含不期望的包含物或容器本身具有缺陷；

-将检查数据指定给所述至少一个容器（1；60）；

-基于检查结果将第一评估指定给所述至少一个容器（1；60），其中所述第一评估至少基于所述本征缺陷、非本征缺陷和固有缺陷；

-将所述识别特征与所述检查数据和所述第一评估一起作为数据包保存到原始数据存储器（15；35）；

-如果所述第一评估为“合格”，将所述至少一个容器（1；60）分类到合格路径（9），或

-如果所述第一评估为“次品”，将所述至少一个容器（1；60）分类到次品路径（10）或

-如果所述第一评估为“重新测试”，将所述至少一个容器（1；60）分类到重新测试路径（11）；

-如果所述第一评估为“重新测试”：

-处理所述数据包以备由检查员（40）进行虚拟检查（38）；

-为处理过的数据包提供数据空间以进行第二评估；

-将所述处理过的数据包保存到处理过的数据存储器（37）；

-将所述处理过的数据存储器（37）提供给所述检查员（40）；

-将所述第二评估指定给所述处理过的数据包的所述数据空间；

-将所述处理过的数据包与所述第二评估一起保存到结果数据存储器；

-基于所述第二评估，将所述至少一个容器（1；60）分类到合格路径（66）、次品路径（67）和另外的路径（68）之一。

2.根据权利要求1所述的过程，其中所述第一评估和/或所述第二评估包括归类。

3.根据权利要求1或2所述的过程，其中通过检测所述至少一个容器（1；60）上提供的识别特征和/或通过将识别特征应用于所述至少一个容器（1；60）来进行所述识别。

4.根据权利要求3所述的过程，其中所述识别特征可从包括字母数字码、矩阵码、条形码、喷墨编码、激光编码、芯片上的电子编码的组中选择。

5.根据权利要求4所述的过程，其中所述识别特征是芯片上的电子编码，并且其中所述芯片包括所述原始数据存储器（15；35）、所述处理过的数据存储器（37）和所述结果数据存储器（39、69）。

6.根据权利要求1或2所述的过程，其中所述检查包括以下步骤：

-拍摄所述至少一个容器（1；60）的照片；以及

-基于预定标准评估拍摄的照片。

7.根据权利要求6所述的过程，其中所述处理包括以下步骤：

-基于所述拍摄的照片和所述预定标准识别所述至少一个容器（1；60）的关键区域；以及

-强调所述拍摄的照片中的所述关键区域。

8.根据权利要求7所述的过程，其中通过扩大所述关键区域和/或通过增加所述关键区域的对比度和/或通过将滤色器应用于所述关键区域来进行所述强调。

9.一种用于执行权利要求1所述的检查过程的检查系统，包括

至少一个检查装置（3；62），其具有用于要检查的容器（1；60）的进口（2；61），

至少一个读取和/或标记单元（4；63），其用于识别所述容器（1；60），

至少一个控制系统（5；64），

检查（6），其用于检查所述容器（1；60）的本征缺陷、非本征缺陷和固有缺陷，所述本征缺陷、非本征缺陷和固有缺陷分别指容器中存在不期望颗粒、容器本身包含不期望的包含物或容器本身具有缺陷，

至少一个分类单元（8；65），其具有至少三个出口（9、10、11；66、67、68），其中能够基于检查结果将每个容器（1；60）引导到所述至少三个出口中的一个，

原始数据存储器（15；35），其用于基于所述检查结果来存储包括所述容器的所述识别、所述检查数据和第一评估的数据包，其中所述第一评估至少基于所述本征缺陷、非本征缺陷和固有缺陷，

处理器（36），其用于处理所述数据包，

处理过的数据存储器（37），其用于存储处理过的数据包，

虚拟检查（38），其具有供检查员（40）使用的工作空间，所述检查员（40）将第二评估指定给所述处理过的数据包，以及

结果数据存储器（39；69），其用于将所述处理过的数据包和所述第二评估一起存储。