[发明专利]参考时钟占空比校准电路

权利要求书

1.一种参考时钟占空比校准电路，其特征在于，包括：

第一低噪声低压差稳压器，用于提供低噪声电压；

振荡电路，用于在所述低噪声电压的提供驱动下，产生正弦波信号；

占空比调节电路，用于根据第一参考电压调整根据所述正弦波信号产生的第一参考时钟信号的占空比；

占空比校准电路，包括：

占空比检测电路，用于检测所述第一参考时钟信号的占空比，并根据所述第一参考时钟信号的占空比调整所述占空比检测电路输出信号的幅值；

第二低噪声低压差稳压器，用于根据所述占空比检测电路输出信号的幅值，调整并输出所述第一参考电压，所述第一参考电压值与所述占空比检测电路输出信号的幅值成正比。

2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述振荡电路产生的所述正弦波信号，以直流耦合的方式输入所述占空比调节电路。

3.根据权利要求1或2所述的电路，其特征在于，所述占空比检测电路根据所述第一参考时钟信号的占空比调整所述占空比检测电路输出信号的幅值，包括：

所述占空比检测电路，用于检测所述第一参考时钟信号的占空比是否偏离预设占空比；

所述占空比检测电路，还用于当确定所述第一参考时钟信号的占空比偏离预设占空比时，调整所述占空比检测电路输出信号的幅值；当确定所述第一参考时钟信号的占空比未偏离预设占空比时，不调整所述占空比检测电路输出信号的幅值。

4.根据权利要求3所述的电路，其特征在于，所述占空比检测电路用于当所述第一参考时钟信号的占空比偏离预设占空比时，调整所述占空比检测电路输出信号的幅值，具体包括：

当连续N次检测到所述第一参考时钟信号的占空比大于所述预设占空比时，所述占空比检测电路增大其输出信号的幅值，所述N为大于1的整数。

5.根据权利要求3所述的电路，其特征在于，所述占空比检测电路用于当所述第一参考时钟信号的占空比偏离预设占空比时，调整所述占空比检测电路输出信号的幅值，具体包括：

当连续M次检测到所述第一参考时钟信号的占空比小于所述预设占空比时，所述占空比检测电路减小其输出信号的幅值，所述M为大于1的整数。

6.根据权利要求4或5所述的电路，其特征在于，所述占空比检测电路获取所述第一参考时钟信号的占空比，包括：

所述占空比检测电路，用于获取所述第一参考时钟信号的高电平时长或低电平时长；

所述占空比检测电路，用于根据所述第一参考时钟信号的周期与所述第一参考时钟信号的高电平时长或低电平时长确定所述第一参考时钟信号的占空比。

7.根据权利要求3-5任一项所述的电路，其特征在于，所述预设占空比为50％。

8.根据权利要求3所述的电路，其特征在于，所述占空比校准电路还包括：

数模转换电路，用于将所述占空比检测电路的输出信号转换为第二参考电压，并将所述第二参考电压输入至所述第二低噪声低压差稳压器，以调整所述第二低噪声低压差稳压器输出的第一参考电压。

9.根据权利要求1-8任一项所述的电路，其特征在于，所述占空比调节电路包括：第一晶体管Q1和第二晶体管Q2；

所述第一晶体管Q1的源极耦合到所述占空比校准电路，所述第一晶体管Q1的栅极和所述第二晶体管Q2的栅极均耦合到所述振荡电路，所述第一晶体管Q1的漏极和所述第二晶体管Q2的漏极均耦合到所述占空比校准电路，所述第二晶体管Q2的源极耦合到地；

当所述第一晶体管Q1的源极电压增大时，所述第一参考时钟信号的占空比减小；当所述第一晶体管Q2的源极电压减小时，所述第一参考时钟信号的占空比增大。

10.根据权利要求1-9任一项所述的电路，其特征在于，所述参考时钟占空比校准电路还包括；

二倍频电路，用于将所述第一参考时钟信号转换为第二参考时钟信号，所述第二参考时钟信号的频率为所述第一参考时钟信号的两倍。