[发明专利]像素插值装置、像素插值方法、图像处理装置和记录介质

说明书

具有通过平均维持插值运算进行插值的第1组插值运算部、以及进行平均维持插值运算以外的插值运算的第2组插值运算部，插值运算部分别对丢失像素进行插值运算来计算插值候选值(M(h))，并且将丢失像素附近的像素作为测试像素来计算测试插值值(M(t))。判定部(4)根据测试插值的结果选择多个插值运算部中的任意插值运算部。输出部(5)选择并输出多个插值候选值(M(h))中的、从由判定部(4)选择出的插值运算部输出的插值候选值。能够进行插值以使插值后的像素不会看起来不自然，而且，需要的存储容量和数据处理量较少即可。

技术领域

本发明涉及像素插值装置、像素插值方法、图像处理装置和记录介质。

背景技术

利用一维摄像部(行传感器)读取读取对象物(原稿)而生成与原稿对应的图像数据的图像读取装置已经实用化。作为行传感器，广泛使用分别具有在其长度方向沿着直线排列的多个光电转换元件的连结多个传感器芯片而成的部件。

传感器芯片是通过半导体制造技术制造的，因此，传感器芯片上的光电转换元件之间的间隔较小。与此相对，行传感器是通过连结多个传感器芯片并将其固定于基板的方法等制造的，因此，位于被连结的传感器芯片的相邻端部的光电转换元件之间的间隔较大。在利用这种行传感器读取原稿而取得图像数据的情况下，在被连结的传感器芯片的相邻端部之间的位置处无法得到像素值。针对这种像素，需要对像素值进行插值。

此外，由于传感器芯片内的光电转换元件的不良情况、存在于光电转换元件和原稿的光路中的本来应该透明的部件的污垢等，有时通过光电转换元件中的读取而得到的像素信号的像素值不正确或可靠性低。针对这种像素值也需要插值。

将不存在光电转换元件的位置的像素、以及由于像素值不正确或像素值的可靠性低等理由而需要插值的像素称作像素值丢失的像素或简称作丢失像素。

为了进行丢失像素的插值，已提出各种插值方法。在专利文献1中，示出在判定为丢失像素位于像素值周期性地变化的图像区域内的情况下，在丢失像素的插值中使用图案匹配法。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特许第5699621号(第0037～0068段、图2)

发明内容

发明要解决的课题

在专利文献1记载的方法中，需要按照像素值的每个变化周期预先准备最佳的图案。当图案的数量较少时，计算出丢失像素看起来不自然的像素值。另一方面，当图案的数量增大时，存在需要的存储容量或数据处理量增加这样的问题。

用于解决课题的手段

本发明的像素插值装置具有：多个插值运算部，它们分别根据构成输入图像的像素的像素值对该输入图像中的丢失像素的像素值进行插值；判定部；以及输出部，所述多个插值运算部分别对所述丢失像素的像素值进行插值，输出插值后的像素值作为插值候选值，将所述丢失像素附近的多个非丢失像素作为测试像素，对所述测试像素各自的像素值进行插值，输出插值后的像素值作为该测试像素的测试插值值，利用与所述丢失像素的插值相同的插值运算方法进行所述测试像素的插值，所述多个插值运算部包含第1组插值运算部和第2组插值运算部，所述第1组插值运算部通过平均维持插值运算进行插值，在所述第1组插值运算部相互之间，被参照的像素的数量彼此不同，所述第2组插值运算部通过与所述平均维持插值运算不同的插值运算进行插值，在所述第2组插值运算部相互之间，插值运算方法和被参照的像素的数量中的至少一方彼此不同，所述判定部根据与各丢失像素附近的多个测试像素分别有关的所述测试插值值与该测试像素的像素值的差分绝对值，计算与各插值运算部有关的误差指标值，根据计算出的误差指标值选择所述多个插值运算部中的任意插值运算部，所述输出部选择并输出针对各丢失像素从所述多个插值运算部输出的插值候选值中的、从由所述判定部选择出的插值运算部输出的插值候选值。

发明效果