[发明专利]相位校准方法、相关装置及设备

权利要求书

1.一种相位校准方法，其特征在于，其中，包括：

启用阵列天线的n个通道，n为大于或等于2的整数；

确定所述n个通道的基准相位差，所述基准相位差为所述n个通道中的基准通道的调试信号与参考信号之间的相位差；

确定所述n个通道中除所述基准通道之外的其他n-1个通道的各自的目标相位差，所述目标相位差为所述n-1个通道各自的调试信号与所述参考信号之间的相位差；

其中，第k个通道的相位差是将所述第k个通道中的移相器在至少三个不同相位状态下得到的，所述第k个通道是所述n个通道中的任意一个通道；

基于所述n-1个通道各自的目标相位差与所述基准相位差之间的差值，调整所述n-1个通道中每个通道中的移相器。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述第k个通道的相位差是根据所述第k个通道中的调试信号与中间合成信号之间的相位差、所述第k个通道中的调试信号的幅值以及中间合成信号的幅值确定的，其中，所述中间合成信号为除所述第k个通道之外的其余n-1个通道中的调试信号合成的合成信号，所述参考信号是所述n个通道中的调试信号合成的合成信号，k为小于或者等于n的正整数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

所述第k个通道的相位差是根据所述第k个通道中的调试信号与中间合成信号之间的相位差、所述第k个通道中的调试信号的幅值以及中间合成信号的幅值，结合矢量运算法则确定的。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，确定所述第k个通道中的调试信号与中间合成信号之间的相位差、所述第k个通道中的调试信号的幅值以及中间合成信号的幅值，包括：

确定所述第k个通道的移相器在至少三个不同相位状态时，所述n个通道的调试信号合成的至少三个合成信号的幅值，其中，所述不同相位状态为所述移相器在不同附加相移时的状态，所述至少三个合成信号的幅值与所述至少三个不同相位状态一一对应；

根据所述至少三个合成信号的幅值，结合余弦定理确定所述第k个通道中的调试信号与中间合成信号之间的相位差、所述第k个通道中的调试信号的幅值以及中间合成信号的幅值。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述确定所述第k个通道的移相器在至少三个不同相位状态时，所述n个通道的调试信号合成的至少三个合成信号的幅值，包括：

获取第一合成信号的第一功率，根据所述第一功率确定所述第一合成信号的幅值，所述第一合成信号为所述第k个通道的移相器在第一相位状态时所述n个通道的调试信号合成的合成信号；

获取第二合成信号的第二功率，根据所述第二功率确定所述第二合成信号的幅值，所述第二合成信号为所述第k个通道的移相器在第二相位状态时所述n个通道的调试信号合成的合成信号；

获取第三合成信号的第三功率，根据所述第三功率确定所述第三合成信号的幅值，所述第三合成信号为所述第k个通道的移相器在第三相位状态时所述n个通道的调试信号合成的合成信号。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据至少三个合成信号的幅值，结合余弦定理确定所述第k个通道中的调试信号与中间合成信号之间的相位差、所述第k个通道中的调试信号的幅值以及中间合成信号的幅值，包括：

根据如下公式确定所述第k个通道中的调试信号与中间合成信号之间的相位差、所述第k个通道中的调试信号的幅值以及中间合成信号的幅值：

其中，C_k为所述中间合成信号的幅值，A_k为所述第k个通道中的调试信号的幅值，θ_k为所述第k个通道中的调试信号与中间合成信号之间的相位差，γ₁为所述移相器在第一相位状态时的附加相移，γ₂为所述移相器在第二相位状态时的附加相移，γ₃为所述移相器在第三相位状态时的附加相移，K₁为所述第一合成信号的幅值，K₂为所述第二合成信号的幅值，K₃为所述第三合成信号的幅值。