[发明专利]辐射检测器

权利要求书

1.检测器，其包括：

包括电触点的辐射吸收层；

滤波器，其被电连接到电触点并且被配置为对来自电触点、低于第一截止频率的信号进行衰减；

积分器，其被电连接到所述滤波器，并且被配置为在时间段上整合来自所述滤波器的信号。

2.如权利要求1所述的检测器，其中所述滤波器还被配置为对来自所述电触点、在第二截止频率和第三截止频率之间的信号进行衰减。

3.如权利要求2所述的检测器，其中所述第二截止频率和所述第三截止频率均高于所述第一截止频率。

4.如权利要求1所述的检测器，其中所述辐射吸收层被配置为从入射到其上的辐射粒子产生电荷载流子，并且所述电触点被配置成收集所述电荷载流子的部分。

5.如权利要求1所述的检测器，其中所述辐射吸收层包括GaAs。

6.如权利要求1所述的检测器，其中，所述辐射吸收层产生暗噪声的第一组分，其中暗噪声的第一组分低于所述第一截止频率。

7.如权利要求2所述的检测器，其中所述辐射吸收层产生暗噪声的第二组分，其中所述暗噪声的第二组分在所述第二截止频率和所述第三截止频率之间。

8.如权利要求1所述的检测器，

其中所述辐射吸收层包括多个第一电触点并且被配置成在所述多个第一电触点上从入射到所述辐射吸收层上的辐射产生电信号；

其中所述检测器还包括电子层，其包括多个第二电触点和电子系统，其中所述电子系统被电连接到所述多个第二电触点，并且被配置为处理或解释所述电信号；

其中所述检测器还包括分布层，其被配置成将所述多个第一电触点电连接到所述多个第二电触点，其中，所述辐射吸收层或所述电子层包括所述分布层；其中，所述多个第一电触点和所述多个第二电触点具有不同的空间分布。

9.如权利要求8所述的检测器，其中所述多个第一电触点的数密度低于所述多个第二电触点的数密度。

10.如权利要求8所述的检测器，其中，所述辐射吸收层包括所述分布层。

11.如权利要求10所述的检测器，其中，所述分布层包括多个通孔，其被对准并被连接至所述多个第一电触点。

12.如权利要求11所述的检测器，其中所述分布层还包括多个导电垫，其中所述通孔被连接至所述导电垫。

13.如权利要求12所述的检测器，其中所述多个第二电触点被结合到所述导电垫。

14.如权利要求8所述的检测器，其中所述电子层包括所述分布层。

15.如权利要求14所述的检测器，其中所述分布层包括多个通孔，其被对准并被连接至所述多个第二电触点。

16.如权利要求15所述的检测器，其中所述分布层还包括多个导电垫，其中所述通孔被连接至所述导电垫。

17.如权利要求16所述的检测器，其中所述多个第一电触点被结合到所述导电垫。

18.如权利要求1所述的检测器，其中所述检测器包括被布置在阵列中的多个像素。

19.一种对人体、肢体、牙齿进行辐射照相的系统，包括如权利要求1所述的检测器，以及辐射源，其中所述系统被配置成对人体、肢体、牙齿进行辐射照相。