[发明专利]电子设备、图像校正方法及非暂时性计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种电子设备，其特征在于，包括显示屏、摄像头和处理器；所述显示屏透光且被配置为可发射光线；所述摄像头设置在所述显示屏的背面，用于拍摄图像；所述处理器被配置为通过消除所述显示屏发射的光线的影响来校正所述摄像头拍摄的图像；

所述处理器还被配置为：获取结构特征信息，根据结构特征信息识别出发射图的像素点，所述结构特征信息包括变焦倍数、发光部件与透镜之间的距离、透镜的尺寸以及相邻发光元件之间的距离；

从摄像头拍摄的图像对应的像素点的颜色值中减去发射图中的对应像素点的颜色值，以校正所述图像中像素点的颜色值。

2.如权利要求1所述的电子设备，还包括存储器，所述存储器被配置为存储将要在所述显示屏的屏幕上显示的显示信息，其特征在于，所述处理器从所述存储器中获取显示信息，根据所述显示信息生成发射图，并基于所述发射图对所述摄像头拍摄的图像进行校正。

3.如权利要求2所述的电子设备，其特征在于，所述处理器从所述存储器中存储的显示信息中获取发射数据，并对所述发射数据插值处理以生成所述发射图。

4.如权利要求3所述的电子设备，其特征在于，所述处理器按照双线性插值算法，计算所述发射图的每一个像素点的颜色值。

5.如权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述显示屏还包括：

发光部件，用于发射光线；以及

反射器，用于反射由所述发光部件发射的光线，所述反射器在所述摄像头前方的位置处设置有通孔。

6.一种图像校正方法，其特征在于，包括：

从显示屏的背面拍摄图像，所述显示屏透光且可发射光线；以及

通过消除所述显示屏发射的光线的影响来校正所述图像，包括：

获取结构特征信息，根据结构特征信息识别出发射图的像素点，所述结构特征信息包括变焦倍数、发光部件与透镜之间的距离、透镜的尺寸以及相邻发光元件之间的距离；

从摄像头拍摄的图像对应的像素点的颜色值中减去发射图中的对应像素点的颜色值，以校正所述图像中像素点的颜色值。

7.一种非暂时性计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有可使计算机执行图像校正过程的程序，所述图像校正过程包括：

从显示屏的背面拍摄图像，所述显示屏透光且可发射光线；以及

通过消除所述显示屏发射的光线的影响来校正所述图像，包括：

获取结构特征信息，根据结构特征信息识别出发射图的像素点，所述结构特征信息包括变焦倍数、发光部件与透镜之间的距离、透镜的尺寸以及相邻发光元件之间的距离；

从摄像头拍摄的图像对应的像素点的颜色值中减去发射图中的对应像素点的颜色值，以校正所述图像中像素点的颜色值。