[发明专利]检查设定装置及检查设定方法在审
申请号: | 201880095679.3 | 申请日: | 2018-07-19 |
公开(公告)号: | CN112437879A | 公开(公告)日: | 2021-03-02 |
发明(设计)人: | 小林贵纮;天野雅史;横井勇太;鬼头秀一郎 | 申请(专利权)人: | 株式会社富士 |
主分类号: | G01N21/956 | 分类号: | G01N21/956;H05K13/08 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 杨青;安翔 |
地址: | 日本爱知*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检查 设定 装置 方法 | ||
1.一种检查设定装置,具备:
判定部,在图像处理的结果包含于被判定为正常的第一容许范围时,判定所述图像处理的结果是否包含于第二容许范围,所述图像处理在对基板作业机进行的基板产品的生产处理中执行来识别所述基板产品中包含的构成部位的状态,所述第二容许范围是比所述第一容许范围窄的容许范围,且考虑所述构成部位及所述图像处理的偏差来设定;及
设定部,在由所述判定部判定为所述图像处理的结果不包含于所述第二容许范围时,将进行了所述判定的所述构成部位的检查基准设定得比进行所述判定之前严格。
2.根据权利要求1所述的检查设定装置,其中,
所述设定部设定检查对象设定、检查项目设定及检查方法设定中的至少一个,所述检查对象设定在所述构成部位不是检查对象时将该构成部位设为检查对象,所述检查项目设定追加与所述构成部位相关的检查项目,所述检查方法设定将与所述构成部位相关的检查方法变更为能够进行精度比进行所述判定之前高的检查的检查方法。
3.根据权利要求2所述的检查设定装置,其中,
所述检查项目是有无检查、位置偏差检查及方向检查中的至少一个,所述有无检查对有无所述构成部位进行检查,所述位置偏差检查对所述构成部位相对于所述构成部位在所述基板产品中应处的预定位置的位置偏差进行检查,所述方向检查对所述基板产品中的所述构成部位的方向进行检查。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的检查设定装置,其中,
所述第二容许范围考虑由操作所述对基板作业机的操作者指定的指定值及在本次的所述图像处理之前多次执行的所述图像处理的结果的统计值中的至少一方而设定。
5.根据权利要求1~4中任一项所述的检查设定装置,其中,
在所述图像处理的结果中包含所述图像处理的所需时间,
所述判定部判定所述图像处理的所需时间是否包含于所述第二容许范围。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的检查设定装置,其中,
所述构成部位包括基板和安装于所述基板的多个元件,
所述图像处理是识别表示所述多个元件中的各元件在所述基板上的位置的坐标值及角度中的至少一方的处理。
7.根据权利要求1~6中任一项所述的检查设定装置,其中,
所述构成部位包括基板和作为所述基板的定位基准的多个标记部,
所述图像处理是识别所述基板上的所述多个标记部的位置关系的处理。
8.根据权利要求1~7中任一项所述的检查设定装置,其中,
所述构成部位包括基板、作为所述基板的定位基准的多个标记部及安装于所述基板的多个元件,
所述判定部在关于所述多个标记部判定为所述图像处理的结果不包含于所述第二容许范围时,关于所述多个元件判定为所述图像处理的结果不包含于所述第二容许范围。
9.根据权利要求8所述的检查设定装置,其中,
所述基板是多个单位基板以能够分割的方式结合的分割基板,
所述多个标记部设于所述多个单位基板中的各单位基板,
所述判定部在关于所述多个单位基板中的一部分单位基板的所述多个标记部判定为所述图像处理的结果不包含于所述第二容许范围时,关于安装于所述一部分单位基板的所述多个元件判定为所述图像处理的结果不包含于所述第二容许范围。
10.根据从属于权利要求3的权利要求8或权利要求9所述的检查设定装置,其中,
所述设定部至少设定所述检查项目设定,所述检查项目设定追加至少包含所述位置偏差检查的所述检查项目,所述位置偏差检查对所述多个元件相对于所述多个元件在所述基板产品中应处的预定位置的位置偏差进行检查。
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