[发明专利]传感器装置在审
申请号: | 201880095802.1 | 申请日: | 2018-10-10 |
公开(公告)号: | CN112513559A | 公开(公告)日: | 2021-03-16 |
发明(设计)人: | 金辰一郎 | 申请(专利权)人: | 帝人株式会社 |
主分类号: | G01B7/16 | 分类号: | G01B7/16 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 舒艳君;王海奇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 传感器 装置 | ||
1.一种传感器装置,其特征在于,具有:
传感器部件,具有使用了2%伸长后的残余应变为0.4%以下的芯材材料的芯材、在所述芯材的外周部卷绕成线圈状的电阻值为1kΩ/m以下的导电体、以及屏蔽向所述导电体的外来电磁波的电磁波阻断层;以及
测定单元,检测来自所述传感器部件的电信号,并基于该电信号的变化来测定传感器部件的位移。
2.根据权利要求1所述的传感器装置,其中,
在25℃时测定出的芯材材料的拉伸弹性模量为1GPa~250GPa。
3.根据权利要求1或2所述的传感器装置,其中,
在所述导电体与所述电波阻断层之间具备具有绝缘功能的绝缘层。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的传感器装置,其中,
所述测定单元具有:
检测部,检测阻抗变化;以及
运算部,基于该阻抗变化来对被测定体的位移量和/或位移率进行运算。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的传感器装置,其中,
所述运算部基于由所述检测部检测出的值中的电感变化来对位移量和/或位移率进行运算。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的传感器装置,其中,
所述测定单元具有对所述传感器部件和/或被测定体的异常进行判定的判定单元。
7.一种测定方法,是位移量和/或位移率的测定方法,其中,
该测定方法使用了权利要求1至6中任一项所述的传感器装置。
8.根据权利要求7所述的测定方法,其中,
在被测定体配置长度不同的至少2个以上的传感器部件,
使用任意2个以上的传感器部件的位移量和/或位移率的差分,求出该任意2个不重叠的非共用区间中的位移量和/或位移率,由此测定被测定体的任意区间中的位移量和/或位移率。
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