[发明专利]部件安装系统以及部件安装方法在审
申请号: | 201880096999.0 | 申请日: | 2018-11-15 |
公开(公告)号: | CN112640067A | 公开(公告)日: | 2021-04-09 |
发明(设计)人: | 山内朗 | 申请(专利权)人: | 邦德泰克株式会社 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/68;H05K13/04 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 吕琳;朴秀玉 |
地址: | 日本京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 部件 安装 系统 以及 方法 | ||
芯片安装系统在设于基板(WT)的对准标记与设于芯片(CP)的对准标记分离了落入拍摄部(35a、35b)的景深的范围内的第一距离的状态下,同时对设于基板(WT)、芯片(CP)的对准标记进行拍摄。然后,芯片安装系统根据由拍摄部(35a、35b)拍摄到的对准标记的拍摄图像计算出基板(WT)与芯片(CP)的相对的位置偏移量,并基于计算出的位置偏移量使芯片(CP)相对于基板(WT)向位置偏移量变小的方向相对地移动。
技术领域
本发明涉及部件安装系统以及部件安装方法。
背景技术
提出一种键合装置,该键合装置在通过使位于键合工具的下方的键合台所支承的基板的位置相对于保持于键合工具的芯片在水平方向移动来进行芯片相对于基板的相对的定位后使键合工具下降(例如参照专利文献1)。该键合装置具备同时对上下方向进行拍摄的所谓的双视野摄像机,将双视野摄像机插入至芯片与基板之间对分别设于芯片和基板的对准标记进行拍摄来识别两者的位置偏移量。然后,键合装置通过以芯片与基板的位置偏移量变小的方式使键合台移动来执行芯片的定位。此外,有时存在设有多组针对一个芯片的对准标记和与其对应的设于基板的对准标记。在该情况下,键合装置依次拍摄多组对准标记来识别芯片与基板的位置偏移量。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2000-269242号公报
发明内容
发明所要解决的问题
然而,在专利文献1所记载的键合装置中,依次拍摄多组对准标记,因此双视野摄像机的振动、经时的位置变化、芯片、基板的热膨胀引起的对准标记位置的经时变化恐怕会影响识别出的位置偏移量。
本发明是鉴于上述事由而完成的,其目的在于提供一种能以高的位置精度将部件安装于基板的部件安装系统以及部件安装方法。
用于解决问题的方案
为了达成上述目的,本发明的部件安装系统在安装至少一个部件的安装面的安装一个部件的区域设有多个第一对准标记的基板上,安装设有与所述多个第一对准标记对应的多个第二对准标记的部件,所述部件安装系统具备:基板保持部,保持所述基板;头,以与所述安装面对置的状态来保持所述部件;拍摄部,从所述部件的所述基板侧的相反侧和所述基板的所述部件侧的相反侧中的至少一方对所述多个第一对准标记和所述多个第二对准标记进行拍摄;基板保持部驱动部,驱动所述基板保持部;头驱动部,驱动所述头;以及控制部,在所述多个第一对准标记与所述多个第二对准标记分离了落入所述拍摄部的景深的范围内的预先设定的第一距离的状态下,以同时对所述多个第一对准标记和所述多个第二对准标记进行拍摄的方式控制所述拍摄部,根据由所述拍摄部拍摄到的所述多个第一对准标记和所述多个第二对准标记的拍摄图像来计算出所述基板与所述部件的相对的位置偏移量,并基于计算出的所述位置偏移量来控制所述基板保持部驱动部和所述头驱动部中的至少一方,以使所述部件相对于所述基板向与所述安装面平行且所述位置偏移量变小的方向相对地移动。
从其他观点来看的本发明的部件安装方法在安装至少一个部件的安装面的安装一个部件的区域设有多个第一对准标记的基板上,安装设有与所述多个第一对准标记对应的多个第二对准标记的部件,所述部件安装方法包括:第一拍摄工序,在所述多个第一对准标记与所述多个第二对准标记分离了落入拍摄部的景深的范围内的预先设定的第一距离的状态下,从所述部件的所述基板侧的相反侧和所述基板的所述部件侧的相反侧中的至少一方通过拍摄部同时对所述多个第一对准标记和所述多个第二对准标记进行拍摄;第一位置偏移量计算工序,在所述基板与所述部件分离了所述第一距离的状态下,根据由所述拍摄部拍摄到的所述多个第一对准标记和所述多个第二对准标记的拍摄图像来计算出所述基板与所述部件的相对的位置偏移量;以及第一位置校正工序,基于在所述第一位置偏移量计算工序中计算出的所述位置偏移量,使所述部件相对于所述基板向与所述安装面平行且所述位置偏移量变小的方向相对地移动,由此对所述部件相对于所述基板的相对的位置进行校正。
发明效果
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于邦德泰克株式会社,未经邦德泰克株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201880096999.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:在球囊导管系统内的球囊和使用方法
- 下一篇:光子波导
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造