[发明专利]辐射成像的方法和系统

权利要求书

1.一种方法，其包括：

在辐射检测器的像素阵列中的像素处获得信号，其中所述信号产生自入射在所述辐射检测器上的辐射；

通过利用在所述像素阵列中的一组参考像素处从所述辐射产生的一组参考信号的组合来校正所述信号而获得校正信号，其中一组权重被分别应用于所述组合中的所述参考信号组；并且

基于所述校正信号形成图像；

其中所述权重组是所述像素相对于所述像素阵列的位置的函数。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述像素阵列中的每个像素均包含所述辐射检测器的辐射吸收层的一部分。

3.如权利要求2所述的方法，其中所述权重组是所述辐射吸收层的厚度的函数。

4.如权利要求2所述的方法，其中所述辐射吸收层包含硅。

5.如权利要求2所述的方法，其中所述信号是由所述辐射在所述辐射吸收层中产生的载流子所产生的。

6.如权利要求1所述的方法，其中所述权重组是所述辐射在所述像素处的传播方向的函数。

7.如权利要求1所述的方法，其中所述权重组是所述参考像素组相对于所述像素的相对位置的函数。

8.如权利要求1所述的方法，其中所述像素是所述参考像素组的成员。

9.如权利要求1所述的方法，其中所述辐射是X射线或伽马射线。

10.如权利要求1所述的方法，其中所述信号和所述参考信号组产生于相同时间段内。

11.如权利要求1所述的方法，其中所述组合是所述参考信号组与应用其中的所述权重组的和。

12.如权利要求1所述的方法，其中所述信号表示在所述像素处的所述辐射的强度。

13.如权利要求1所述的方法，其中所述辐射检测器包括辐射吸收层和电子层；

其中所述辐射吸收层包括电极；

其中所述电子层包括电子系统；

其中所述电子系统包括：

第一电压比较器，其被配置为将所述电极的电压与第一阈值进行比较，

第二电压比较器，其被配置为将所述电压与第二阈值进行比较，

计数器，其被配置为记录到达所述辐射吸收层的多个辐射光子，以及

控制器；

其中所述控制器被配置为从所述第一电压比较器确定所述电压的绝对值等于或超过所述第一阈值的绝对值时启动时间延迟；

其中所述控制器被配置为在所述时间延迟期间启动所述第二电压比较器；

其中所述控制器被配置为如果所述第二电压比较器确定所述电压的绝对值等于或超过所述第二阈值的绝对值，则使所述计数器记录的数目增加一。

14.如权利要求13所述的方法，其中所述电子系统进一步包括电连接到所述电极的积分器，其中所述积分器被配置为从所述电极收集载流子。

15.如权利要求13所述的方法，其中所述控制器被配置为在所述时间延迟的开始或期满时启动所述第二电压比较器。

16.如权利要求13所述的方法，其中所述电子系统进一步包括电压表，其中所述控制器被配置为使所述电压表在所述时间延迟期满时测量所述电压。

17.如权利要求13所述的方法，其中所述控制器被配置为基于在所述时间延迟期满时测得的所述电压的值来确定辐射光子能量。

18.如权利要求13所述的方法，其中所述控制器被配置为将所述电极连接到电接地。