[发明专利]术中对准评估系统和方法在审

专利信息
申请号: 201880097127.6 申请日: 2018-12-31
公开(公告)号: CN112638237A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: D·M·古洛提;A·H·索塔尼安扎德;N·索多尔;E·F·卢佩尔三世;N·G·弗兰克尼;S·P·鲁特;藤田咲;M·彻拉拉;K·R·考德瑞克;M·F·特瑞斯 申请(专利权)人: 脊柱对准有限公司
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00;A61B34/20;A61B17/70;A61B90/00
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 高文静
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 对准 评估 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种系统,包括:

至少一个动态参考框架,所述至少一个动态参考框架(DRF)被配置成使得DRF的任何固定或移动部分,或者耦合至所述DRF的任何组件或部件,能够使用多个可跟踪标记在3D空间中被配准,所述多个可跟踪标记包括至少一个可移动或可触发标记;

至少一个用户致动触发器或致动器,所述至少一个用户致动触发器或致动器耦合到所述至少一个可移动或可触发标记,所述至少一个用户致动触发器或致动器被配置和布置成触发或致动所述至少一个可移动或可触发标记;

至少一个3D跟踪相机或成像系统,所述至少一个3D跟踪相机或成像系统被配置为跟踪所述多个可跟踪标记中的一个或多个;以及

处理器和耦合到所述处理器的存储器,所述存储器存储可由所述处理器执行以跟踪所述多个可跟踪标记中的一个或多个可跟踪标记的一个或多个3D坐标的指令。

2.一种分析和提供脊柱对准解剖信息和治疗设备数据的方法,包括:

获得初始患者数据;

获取对准轮廓信息;

评估局部解剖特征;

获得解剖区域数据;

分析局部解剖结构;

分析治疗设备位置和轮廓绘制;以及

在显示器上输出局部解剖分析和治疗设备轮廓绘制数据。

3.一种解剖标记或跟踪系统,包括:

下部基准对准组件和互补的上部基准对准组件,所述下部基准对准组件被配置成耦合到解剖结构,并且所述上部基准对准组件被配置成使用所述下部基准对准组件和所述上部基准对准组件的至少一个特性来对准到所述下部基准组件的至少一部分;以及

不透射线标记,不透射线标记被配置成使用X射线源或成像器在视觉上可观察,所述不透射线标记至少部分地嵌入所述下部基准对准组件和互补的上部基准对准组件中的至少一个中。

4.根据权利要求3所述的系统,其中所述至少一个特性包括至少一个磁体。

5.根据权利要求3所述的系统,其中所述至少一个特性包括至少一个突起,所述至少一个突起被配置成至少部分地插入至少一个配合孔或与至少一个配合孔配合。

6.根据权利要求5所述的系统,其中所述至少一个突起包括从所述下部基准对准组件的配合表面延伸的至少一个突起。

7.根据权利要求5所述的系统,其中所述至少一个配合孔被定位成穿过所述上部基准对准组件的配合表面。

8.根据权利要求3所述的系统,其中所述下部基准对准组件和所述互补的上部基准对准组件被配置成至少部分地对准并通过手术盖布或手术巾耦合在接口处,其中所述接口包括定位在所述互补的上部基准对准组件和所述下部基准对准组件的至少一部分之间的所述手术盖布或手术巾的至少一部分。

9.根据权利要求3所述的系统,其中所述上部基准对准组件包括定位在上表面中的至少一个凹槽,所述至少一个凹槽被配置成由跟踪探头跟踪以确定所述系统的唯一身份以及解释系统在空间中的位置和姿态。

10.根据权利要求9所述的系统,其中所述至少一个凹槽包括被配置为容纳和/或引导跟踪探头的“Z”形几何结构。

11.根据权利要求10所述的系统,其中所述至少一个凹槽包括倾斜的斜面,所述倾斜的斜面被配置成便于用户从所述上部基准对准组件的上表面的上表面向下到所述系统被放置到其上的身体表面来跟踪探头。

12.根据权利要求3所述的系统,其中所述下部基准对准组件被配置和布置成粘附到皮肤表面。

13.根据权利要求3所述的系统,其中所述下部基准对准组件和上部基准对准组件中的至少一个包括指示用户应当如何定位所述系统的引导件。

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