[其他]用于多光谱成像的装置和卫星成像系统有效

专利信息
申请号: 201890001206.8 申请日: 2018-09-14
公开(公告)号: CN212012844U 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 杰拉尔多·加布里埃尔·理查特;阿古斯蒂纳·波泽;大卫·维拉塞卡;帕布鲁·贾伊斯;胡安·曼纽尔·武莱提奇 申请(专利权)人: 优鲁格斯股份有限公司
主分类号: H04N5/33 分类号: H04N5/33;G02B5/20;G01J3/28;G01J3/10;G01J3/02;G01J3/51;G06T1/00
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 张少波;杨明钊
地址: 乌拉圭蒙*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 光谱 成像 装置 卫星 系统
【权利要求书】:

1.一种用于多光谱成像的装置,其特征是,所述装置包括:

透镜;

成像设备,其具有传感器阵列,所述传感器阵列具有多个像素传感器,所述传感器阵列定位成与所述透镜的光轴重合;

聚焦校正器,其设置在所述透镜和所述传感器阵列之间,所述聚焦校正器具有第一棱镜部分,所述第一棱镜部分被配置为使在给定光谱范围之外的期望波长的光折射并使所述期望波长会聚到所述传感器阵列上;以及

光学带通滤波器,其设置在所述传感器阵列和所述聚焦校正器之间,所述光学带通滤波器被配置为选择性地允许期望波长穿过其传输。

2.根据权利要求1所述的装置,其中所述多个像素传感器中的像素传感器被配置为检测多个波长中的对应的波长,并且其中所述聚焦校正器被配置为使得对于所述多个像素传感器中的像素传感器的多个波长中的波长所述透镜的对应焦距的度量在阈值聚焦误差容限内。

3.根据权利要求1所述的装置,其中所述聚焦校正器包括恒定厚度部分,所述恒定厚度部分被设计成允许在给定光谱频带中的光穿过所述恒定厚度部分。

4.根据权利要求1所述的装置,其中所述聚焦校正器包括连续可变厚度部分,所述连续可变厚度部分被设计成允许在给定光谱频带中的光穿过所述连续可变厚度部分。

5.根据权利要求1所述的装置,其中所述聚焦校正器包括根据所述透镜的波长相关焦点变化而变化的可变厚度部分。

6.根据权利要求1所述的装置,其中所述光学带通滤波器是线性可变滤波器。

7.根据权利要求1所述的装置,其中所述光学带通滤波器包括两个或更多个离散的光谱频带。

8.根据权利要求1所述的装置,其中所述多个像素传感器中的像素传感器被配置为检测多个波长中的相应的波长,并且所述聚焦校正器对于所述多个像素传感器中的像素传感器的多个波长中的波长使所述透镜的相应焦距的曲线变平。

9.根据权利要求1所述的装置,其中所述透镜是简单透镜、消色差透镜、复消色差透镜或超消色差透镜中的一个。

10.一种卫星成像系统,其特征是,所述卫星成像系统包括:

透镜,其对于多个波长中的每个波长具有多个焦距,所述多个焦距由所述多个波长的焦距曲线描述;

像素传感器的阵列,像素传感器的所述阵列布置在与所述透镜的光轴垂直的平面区域中,所述平面区域的多个部分被指定用于感测所述多个波长中的对应波长;

聚焦校正器,其设置在所述透镜和像素传感器的所述阵列之间,所述聚焦校正器被配置为使所述多个波长折射,使得所述多个波长实质上会聚在像素传感器的所述阵列上;以及

光学带通滤波器,其设置在所述透镜和像素传感器的所述阵列之间。

11.根据权利要求10所述的卫星成像系统,其中所述平面区域的所述多个部分被指定用于检测的所述多个波长中的对应波长是所述多个部分中的单独部分离像素传感器的所述阵列的第一边缘的距离的函数。

12.根据权利要求10所述的卫星成像系统,其中所述平面区域的所述多个部分被指定用于至少基于位于所述透镜和像素传感器的所述阵列之间的可变滤波器来检测所述多个波长中的相应波长。

13.根据权利要求10所述的卫星成像系统,其中所述聚焦校正器被配置为减小在所述多个波长的所述焦距曲线和焦点位置曲线之间的偏差的总度量。

14.根据权利要求10所述的卫星成像系统,其中所述卫星成像系统还包括图像处理器,所述图像处理器被配置为从像素传感器的所述阵列获得图像数据并校正由所述聚焦校正器引起的失真。

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