[其他]用于检测玻璃片上的表面缺陷的设备

权利要求书

1.一种用于检测玻璃片上的表面缺陷的设备，其特征在于，所述设备包含：

光源；

对准器，所述对准器经排列以对准来自所述光源的光；

光束分离器，所述光束分离器经配置以将所述经对准的光的第一部分朝向并垂直于所述玻璃片的第一表面导引，使得所述经对准的光的所述经导引部分照亮所述玻璃片的所述第一表面，其中照亮所述玻璃片的所述第一表面的光的第一部分由所述第一表面反射，而照亮所述玻璃片的所述第一表面的光的第二部分由缺陷所散射；

透镜组合件，所述透镜组合件包含第一透镜元件及第二透镜元件，所述透镜组合件经排列以接收来自所述经对准光的所述经导引部分自所述玻璃片的所述第一表面所反射的光以及自所述玻璃片的所述第一表面上的缺陷所散射的光；

反向孔径，所述反向孔径经定位在所述第一透镜元件与所述第二透镜元件之间；及

成像装置，所述成像装置经定位以接收由所述缺陷所散射并由所述反向孔径通过的光。

2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述反向孔径经配置以挡住自所述第一表面反射的光。

3.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述反向孔径包含透明板，所述透明板包含设置在其上的屏蔽材料，所述屏蔽材料包含内屏蔽及外屏蔽，所述外屏蔽界定了在所述外屏蔽与所述内屏蔽之间布置的环形透明区域的外周围。

4.根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述内屏蔽包含不透明中心盘。

5.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述光源包括激光或LED。

6.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述光源经配置以发出在400nm到700nm的波长范围内的光。

7.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述设备进一步包含光二极管，所述光二极管经配置以监测来自所述光源的光并提供信号给控制器。

8.根据权利要求7所述的设备，其特征在于，所述控制器经配置以调整所述光源的输出功率。

9.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述设备进一步包含玻璃片接近度传感器，所述玻璃片接近度传感器经定位以检测所述玻璃片。

10.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述设备进一步包含光束收集器，所述光束收集器包含以光吸收材料涂布的板。