[发明专利]一种环境本底下弱γ放射源识别方法有效
| 申请号： | 201910000428.9 | 申请日： | 2019-01-02 |
| 公开（公告）号： | CN109581468B | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 文继;张宏俊;陈想林;莫钊洪;熊忠华;田青青;帅茂兵 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院材料研究所 |
| 主分类号： | G01T1/202 | 分类号： | G01T1/202 |
| 代理公司： | 成都天既明专利代理事务所(特殊普通合伙) 51259 | 代理人： | 李钦 |
| 地址： | 621907 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 环境 底下 放射源 识别 方法 | ||
1.一种环境本底下弱γ放射源识别方法，其特征在于，包括如下步骤：
（1）测定本底特征量Rref
预先测定出天然γ辐射本底，并在所得脉冲高度谱上设置上阈Su和下阈Sd，分别测定通过下阈Sd的积分计数率Rd、通过上阈Su的积分计数率Ru，计算得到上域Su以上的积分计数率Ru与下阈Sd以上的积分计数率Rd之比，即本底特征量Rref；在进行天然γ辐射测定时，不同的测量数据之间的差异仅仅是由天然辐射的脉冲分布特征决定，构成本底特征量Rref；
（2）实际测定
在测定环境中进行测定，在所得脉冲高度谱上，设置与步骤（1）相同的上阈Su和下阈Sd，分别测定通过上阈Su的积分计数率Ru和通过下阈Sd的积分计数率Rd，计算得到下阈Sd以上的积分计数率Rd与上阈Su以上的积分计数率Ru之比R；
（3）比较
若步骤（2）测定的R与步骤（1）测定的本底特征量Rref符合，或在误差范围内符合，即可认为无人工γ辐射源；
若步骤（2）测定的R与步骤（1）测定的本底特征量Rref的差值大于事先设定的阈值，则测定环境中存在人工γ辐射源；
所述步骤（1）中，以待测γ射线能量的全能峰高度的10％所在水平线与全能峰的左端交点为下阈，以右端交点为上阈。
2.根据权利要求1所述环境本底下弱γ放射源识别方法，其特征在于，所述步骤3中，阈值通过实验测定。
3.根据权利要求1所述环境本底下弱γ放射源识别方法，其特征在于，所述步骤（1）中，本底特征量Rref在指定环境下几乎为一个常数。
4.根据权利要求1~3任一项所述环境本底下弱γ放射源识别方法，其特征在于，所述步骤（2）中设定的上阈、下阈分别与步骤（1）设定的上阈、下阈相同。
5.根据权利要求1所述环境本底下弱γ放射源识别方法，其特征在于，所述上阈Su为至少一个。
6.根据权利要求5所述环境本底下弱γ放射源识别方法，其特征在于，所述上阈Su的数量与辐射源的数量相同。
7.根据权利要求1所述环境本底下弱γ放射源识别方法，其特征在于，将其用于多点测量的操作步骤如下：
（a）测定本底特征量Rref
预先测定出天然γ辐射本底，并在所得脉冲高度谱上设置上阈Su和下阈Sd，分别测定通过下阈Sd的积分计数率Rd、通过上阈Su的积分计数率Ru，计算得到上域Su以上的积分计数率Ru与下阈Sd以上的积分计数率Rd之比，即本底特征量Rref；在进行天然γ辐射测定时，不同的测量数据之间的差异仅仅是由天然辐射的脉冲分布特征决定，构成本底特征量Rref；
（b）实际测定
在测定环境中进行测定，在所得脉冲高度谱上，设置与步骤（1）相同的上阈Su和下阈Sd，分别测定通过上阈Su的积分计数率Ru和通过下阈Sd的积分计数率Rd，计算得到下阈Sd以上的积分计数率Rd与上阈Su以上的积分计数率Ru之比R；
（3）比较
若步骤（2）测定的R与步骤（1）测定的本底特征量Rref符合，或在误差范围内符合，即可认为无人工γ辐射源；
若步骤（2）测定的R与步骤（1）测定的本底特征量Rref的差值大于事先设定的阈值，则测定环境中存在人工γ辐射源。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院材料研究所，未经中国工程物理研究院材料研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910000428.9/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种伽马射线探测器
- 下一篇：一种大面积环形塑料闪烁体加工方法
