[发明专利]一种环境本底下弱γ放射源识别方法有效
申请号: | 201910000428.9 | 申请日: | 2019-01-02 |
公开(公告)号: | CN109581468B | 公开(公告)日: | 2022-04-22 |
发明(设计)人: | 文继;张宏俊;陈想林;莫钊洪;熊忠华;田青青;帅茂兵 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院材料研究所 |
主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202 |
代理公司: | 成都天既明专利代理事务所(特殊普通合伙) 51259 | 代理人: | 李钦 |
地址: | 621907 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 环境 底下 放射源 识别 方法 | ||
1.一种环境本底下弱γ放射源识别方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)测定本底特征量Rref
预先测定出天然γ辐射本底,并在所得脉冲高度谱上设置上阈Su和下阈Sd,分别测定通过下阈Sd的积分计数率Rd、通过上阈Su的积分计数率Ru,计算得到上域Su以上的积分计数率Ru与下阈Sd以上的积分计数率Rd之比,即本底特征量Rref;在进行天然γ辐射测定时,不同的测量数据之间的差异仅仅是由天然辐射的脉冲分布特征决定,构成本底特征量Rref;
(2)实际测定
在测定环境中进行测定,在所得脉冲高度谱上,设置与步骤(1)相同的上阈Su和下阈Sd,分别测定通过上阈Su的积分计数率Ru和通过下阈Sd的积分计数率Rd,计算得到下阈Sd以上的积分计数率Rd与上阈Su以上的积分计数率Ru之比R;
(3)比较
若步骤(2)测定的R与步骤(1)测定的本底特征量Rref符合,或在误差范围内符合,即可认为无人工γ辐射源;
若步骤(2)测定的R与步骤(1)测定的本底特征量Rref的差值大于事先设定的阈值,则测定环境中存在人工γ辐射源;
所述步骤(1)中,以待测γ射线能量的全能峰高度的10%所在水平线与全能峰的左端交点为下阈,以右端交点为上阈。
2.根据权利要求1所述环境本底下弱γ放射源识别方法,其特征在于,所述步骤3中,阈值通过实验测定。
3.根据权利要求1所述环境本底下弱γ放射源识别方法,其特征在于,所述步骤(1)中,本底特征量Rref在指定环境下几乎为一个常数。
4.根据权利要求1~3任一项所述环境本底下弱γ放射源识别方法,其特征在于,所述步骤(2)中设定的上阈、下阈分别与步骤(1)设定的上阈、下阈相同。
5.根据权利要求1所述环境本底下弱γ放射源识别方法,其特征在于,所述上阈Su为至少一个。
6.根据权利要求5所述环境本底下弱γ放射源识别方法,其特征在于,所述上阈Su的数量与辐射源的数量相同。
7.根据权利要求1所述环境本底下弱γ放射源识别方法,其特征在于,将其用于多点测量的操作步骤如下:
(a)测定本底特征量Rref
预先测定出天然γ辐射本底,并在所得脉冲高度谱上设置上阈Su和下阈Sd,分别测定通过下阈Sd的积分计数率Rd、通过上阈Su的积分计数率Ru,计算得到上域Su以上的积分计数率Ru与下阈Sd以上的积分计数率Rd之比,即本底特征量Rref;在进行天然γ辐射测定时,不同的测量数据之间的差异仅仅是由天然辐射的脉冲分布特征决定,构成本底特征量Rref;
(b)实际测定
在测定环境中进行测定,在所得脉冲高度谱上,设置与步骤(1)相同的上阈Su和下阈Sd,分别测定通过上阈Su的积分计数率Ru和通过下阈Sd的积分计数率Rd,计算得到下阈Sd以上的积分计数率Rd与上阈Su以上的积分计数率Ru之比R;
(3)比较
若步骤(2)测定的R与步骤(1)测定的本底特征量Rref符合,或在误差范围内符合,即可认为无人工γ辐射源;
若步骤(2)测定的R与步骤(1)测定的本底特征量Rref的差值大于事先设定的阈值,则测定环境中存在人工γ辐射源。
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