[发明专利]一种3C产品壳体过渡区加工路径自适应规划的方法在审
申请号: | 201910000518.8 | 申请日: | 2019-01-02 |
公开(公告)号: | CN109782692A | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
发明(设计)人: | 邹捷;高翔;晏伟;贾衡;李鹏 | 申请(专利权)人: | 武汉华中数控股份有限公司;华中科技大学 |
主分类号: | G05B19/404 | 分类号: | G05B19/404 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 张涛 |
地址: | 430223 湖北省武汉市东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量点 自适应 测量路径 加工路径 轮廓曲率 过渡区 壳体 找正 优化 测量误差补偿 外轮廓测量 避障距离 刀位路径 改变测量 干涉测量 工件装夹 工艺基准 规划流程 离散点集 路径规划 位置误差 在机测量 避障点 点补偿 无碰撞 稠密 规划 修正 | ||
1.一种3C产品壳体过渡区加工路径自适应规划的方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1,对工件进行初步找正,消除工件装夹位置误差,完成工艺基准的修正;
步骤2,初步找正后,针对大量离散离散点集作为优化输入,进行在机测量自适应路径首次优化,获取测量点;
步骤3,进行外轮廓测量路径规划,获取规避点和每个测量点的误差值;
步骤4,根据所述规避点来改变测量轨迹走向,生成了无干涉测量路径,根据所述误差值对首次优化获得的测量点进行测量误差补偿,完成刀位路径点补偿。
2.根据权利要求1所述的3C产品壳体过渡区加工路径自适应规划的方法,其特征在于,步骤1具体为:
生成测量路径,完成采样点自适应布局与测量路径自动规划;进行测量路径防碰撞仿真,并完成后置处理工艺;生成用于在机测量的NC测量宏程序及包含测量点-刀位点映射模型的中间数据点文档;将后置处理文档输入数据机床中,根据测量宏程序,完成测头系统标定及工件多点分中找正对工件进行初步找正。
3.根据权利要求1所述的3C产品壳体过渡区加工路径自适应规划的方法,其特征在于,步骤1具体包括:
步骤2.1、首先获取测量离散最大步长m、弦高误差n,对待测曲线以步长m进行等间距测量点划分,获得初始离散点序列P1...Pi-1、Pi、Pi+1...(i>2),完成粗划分步骤;
步骤2.2,输入离散点P1...Pi-1、Pi、Pi+1...(i≥2),设定弦高误差阈值n作为控制因子;
步骤2.3,保存第一个离散点P1作为测量点;
步骤2.4,令Pi-1为起点,Pi为中间待确定点,Pi+1为终点,计算Pi到弦Pi-1Pi+1.的垂直距离h,比较h与阈值n的大小,如h大于n,则剔除该中间待确定点Pi;如h小于等于n,则保存该中间待确定点Pi作为测量点;
步骤2.5,判断终点Pi+1是否为最后一个离散点,是,则进入步骤2.6;否,则令i=i+1,重新执行步骤2.4;
步骤2.6,保存终点并结束。
4.根据权利要求3所述的3C产品壳体过渡区加工路径自适应规划的方法,其特征在于,计算Pi到弦Pi-1Pi+1.的垂直距离h的公式为:
其中,h为离散点Pi到弦Pi-1Pi+1的垂直距离,S为两测量点之间的距离,θ为Pi-1Pi与Pi-1Pi+1之间的夹角。
5.根据权利要求4所述的3C产品壳体过渡区加工路径自适应规划的方法,其特征在于,所述步骤3具体包括:
进行实际测量路径的采样,根据所述测量点与实际测量路径对比获取每个测量点的x、y、z坐标的误差值,根据实际测量路径的采样获取实际轮廓,依次连接所有测量点构成O平面,将所述实际轮廓投影到O平面上得到投影轮廓,判断线段PiPi+1是否与投影轮廓相交,若有交集,从在点Pi处抬刀,规避距离为d,得到避障点P′i、Pi+1′,完成测量路径的避障。
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