[发明专利]一种芯片老炼试验数据处理方法

权利要求书

1.一种芯片老炼试验数据处理方法，其特征在于：

1)步骤一，芯片老炼试验中测量采集功率/电流数据而获得所有数据集合，针对每一个数据集合，计算出数据集合中每个数据点的局部离群因子，并根据局部离群因子筛除数据点；对步骤一获得的筛除数据点后的每个数据集合，采用以下方式处理获得最后的精确值。

1.1)计算每两个数据点o_i,o_j之间的距离d(o_i,o_j)；

1.2)针对每个数据点o_i，将和每个数据点o_i有关的所有距离从小到大排序。

1.3)以数据点o_i为圆心、以第k个距离为半径范围构建数据点o_i的第k个距离邻域，取数据点o_i的第k个距离邻域内所有数据点组成邻域集合N_k(o_i)，集合N_k(o_i)中点总数满足|N_k(o_i)|≥k，而N_k(o_i)表示为：

N_k(o_i)＝{o_j≠o_i|d(o_i,o_j)≤d_k(o_i)}

其中，d_k(o_i)表示与数据点o_i有关的距离排序中的第k个距离，d(o_i,o_j)表示数据点o_i和数据点o_j之间的距离；

1.4)再计算数据点o_i对于另一个数据点o_j的可达距离Rd_k(o_i←o_j)：

Rd_k(o_i←o_j)＝max{d_k(o_j),d(o_i,o_j),ε}

其中，ε表示下限常数；

1.5)然后计算数据点o_i的局部可达密度：

1.6)计算数据点o_i的邻域集合N_k(o_i)的局部可达密度与数据点o_i的局部可达密度之比的平均数，作为局部离群因子：

其中，LOF_k(o_i)表示数据点o_i的第k个距离下的局部离群因子；

1.7)根据局部离群因子然后判断：

1.8)重复上述步骤，获得各个数据点的局部离群因子，将局部离群因子LOF_k(o_i)大于临界阈值LOF_A的数据点o_i去除；

2)步骤二，对步骤一获得的筛除数据点后的每个数据集合，采用以下方式处理获得最后的精确值：

2.1)计算数据集合内所有数据点的平均值t₁，找出数据集合中最大值的数据点o_i＝max{o₁,o₂,…o_n}，令o_i＝t₁以更新数据集合；

2.2)再计算数据集合内所有数据点的平均值t₂，找出数据集合中最小值的数据点o_j＝min{o₁,o₂,…o_n}，令o_j＝t₂以更新数据集合；

2.3)再次计算数据集合内所有数据点的平均值t₃，并求出平均值t₃与更新后的数据集合中各个数据点之差的绝对值之和e：

2.4)若绝对值之和满足e>ε，其中ε表示计算精度阈值，ε>0，则令t₁＝t₃，回转到步骤2.1)；若绝对值之和不满足e>ε，否则结束计算，获得的平均值t₃为最终的精确值。