[发明专利]一种新型光纤陀螺全温失准角测试方法

说明书

本发明涉及一种新型光纤陀螺全温失准角测试方法，本发明成果是针对光纤陀螺法拉第效应对陀螺测试的影响进行研究，设计的带有双层屏蔽效果的测试工装与测试方法。采用本发明设计可以隔绝低频磁场对陀螺的影响，降低各类磁场对全温失准角测量中引入的误差。

技术领域

本发明涉及光纤陀螺领域，尤其是一种新型光纤陀螺全温失准角测试方法。

背景技术

光纤陀螺作为全固态仪表，具有寿命长、质量轻、体积小、动态范围大、精度应用覆盖面广、抗冲击等特点，已成为新一代捷联惯性导航系统及其他应用中较理想的陀螺仪表。但是，光纤陀螺使用的光学器件与光电子器件容易受到温度的影响，进而影响到陀螺零偏、标度因数、失准角等指标的性能，如何更有效地抑制温度误差向来是光纤陀螺技术研究的重点之一。光纤陀螺零偏与标度因数两种指标的温度性能已取得了较好的研究成果，但随着光纤陀螺应用精度的提升，缺乏深入研究的失准角温度误差(高低温环境下失准角的变化)已成为一项不可忽略的误差项，开展对失准角误差的深入研究是十分必要的。

发明内容

本发明的目的在于弥补现有技术的不足之处，提供一种新型光纤陀螺全温失准角测试方法。

本发明的目的是通过以下技术手段实现的：

一种新型光纤陀螺全温失准角测试方法，其特征在于：包括以下步骤：

⑴、利用钴基非晶态合金，制作第一层屏蔽罩，光纤陀螺放置在第一层屏蔽罩内；

⑵、在第一层屏蔽罩的外侧利用铁镍软磁合金制作第二层磁屏蔽罩，即第一层屏蔽罩放置在第二层屏蔽罩内部；

⑶、将其内放置有第一层屏蔽罩和光纤陀螺的第二层屏蔽罩安装在测量光纤陀螺失准角专业的六面体工装上；

⑷、按照GJB 2426A-2015光纤陀螺仪测试方法进行光纤陀螺全温失准角测试。

而且，所述的两层屏蔽罩相互分离，第一层屏蔽罩直接放在第二层屏蔽罩内。

而且，所述的第二层屏蔽罩位于六面体工装的外部，其安装在测量光纤陀螺失准角专业的六面体工装的上表面上。

本发明的优点和积极效果是：

本测试方法是对国军标GJB 2426A-2015(光纤陀螺仪测试方法)测量光纤陀螺的输入轴失准角的一个有益补充。在此GJB的基础上对在光纤陀螺全温度工作范围内的失准角进行测量，由于热应力的作用光纤环圈的尺寸及光纤环圈内光纤微元的敏感轴方向会随着温度发生改变，与此同时在测试过程中地磁和其他设备引入的磁场引起的磁场法拉利效应也会发生变化。

本发明在此基础上，引入多层磁屏蔽设计，在测量光纤陀螺失准角专业的六面体工装上加载双层磁屏蔽罩。内侧屏蔽罩由钴基非晶态材料组成，以隔离高频磁场对陀螺的影响。在外侧加载第二层磁屏蔽罩，由铁镍合金构成，主要目标为隔绝低频磁场对陀螺的影响，从而降低了各类磁场对全温失准角测量中引入的误差。

附图说明

图1是加双层屏蔽罩的光纤陀螺全温失准角测试系统。

具体实施方式

下面结合附图详细叙述本发明的实施例，需要说明的是，本实施例是叙述性的，不是限定性的，不能以此限定本发明的保护范围。

为了便于理解本发明，首先对本发明的设计理念及研发过程进行描述：