[发明专利]一种提取三面角结构尺寸参数的方法有效
申请号: | 201910007131.5 | 申请日: | 2019-01-04 |
公开(公告)号: | CN109490863B | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 崔闪;李胜;闫华 | 申请(专利权)人: | 北京环境特性研究所 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41 |
代理公司: | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人: | 张沫;周娇娇 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提取 三面角 结构 尺寸 参数 方法 | ||
本发明涉及一种提取三面角结构尺寸参数的方法,包括:根据目标在多角度下的扫频数据,获得目标的一维距离像历程图;针对任一俯仰视向角,根据三面角结构的三维位置确定其在所述俯仰视向角下雷达视线上的变化轨迹;根据所述变化轨迹,从一维距离像历程图中提取三面角结构在所述俯仰视向角下的RCS变化曲线;根据三面角结构在多个俯仰视向角下的RCS变化曲线确定三面角结构的空间RCS分布图;依据三面角结构的空间RCS分布图确定三面角结构的参数信息。本发明能够提高复杂目标中三面角结构尺寸参数提取的准确性和精确性。
技术领域
本发明涉及雷达目标特性技术领域,尤其涉及一种提取三面角结构尺寸参数的方法。
背景技术
光学区雷达目标的电磁散射表现为目标某些局部位置上电磁散射的合成,这些局部性的散射源表现出不同的散射机理。散射机理通常与特定的散射结构相关,包括三面角、二面角、顶帽、球、平板等,针对这些散射结构,可以建立相应的参数化模型。这种基于电磁散射机理的参数化模型可用于从复杂目标的散射信号中提取特定散射结构的尺寸参数。
典型散射结构尺寸信息的提取方法尚处于起步阶段,目前国内外已提出了若干参数化模型及参数提取算法,但由于复杂目标中的多散射结构之间存在几何遮挡效应,以及特定角度下散射源在距离像中的位置相互重叠等问题,其三面角结构参数的提取更为困难,进而影响参数提取的准确性。
因此,现有技术中需要一种能够解决由于光学区雷达目标的散射结构复杂而导致复杂目标中散射结构尺寸信息提取的准确性差的问题的解决方案。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种提取三面角结构尺寸参数的方法,能够提高复杂目标中三面角结构尺寸参数提取的准确性和精确性。
根据本发明的提取三面角结构尺寸参数的方法,包括:
根据目标在多角度下的扫频数据,获得目标的一维距离像历程图;
针对任一俯仰视向角,根据三面角结构的三维位置确定其在所述俯仰视向角下雷达视线上的变化轨迹;根据所述变化轨迹,从一维距离像历程图中提取三面角结构在所述俯仰视向角下的RCS变化曲线;
根据三面角结构在多个俯仰视向角下的RCS变化曲线确定三面角结构的空间RCS分布图;
依据三面角结构的空间RCS分布图确定三面角结构的参数信息。
可选地,三面角结构在雷达视线上的变化轨迹为:
R(θ,φ)=x(φ)sinθcosφ+y(φ)sinθsinφ+z(φ)cosθ,
式中,θ、φ分别为雷达视线在目标本体坐标系中的俯仰视向角和方位视向角,(x,y,z)是散射中心在目标本体坐标系中的坐标,R(θ,φ)为三面角结构在雷达视线上的投影距离。
可选地,根据所述变化轨迹,从一维距离像历程图中提取三面角结构在所述俯仰视向角下的RCS变化曲线,包括:
从一维距离像历程图中提取与所述变化轨迹重合的曲线,以所述曲线作为三面角结构在所述入射角下的RCS变化曲线。
可选地,根据三面角结构在多个俯仰视向角下的RCS变化曲线确定三面角结构的空间RCS分布图之前,还包括:对所述RCS变化曲线做平滑处理。
可选地,依据三面角结构的空间RCS分布图确定三面角结构的参数信息,包括:
根据三面角结构的参数化模型确定三面角结构在预设俯仰视向角和方位视向角下的RCS强度值与三面角结构的参数之间的第一关系式;
依据所述空间RCS分布图确定三面角结构在所述预设俯仰视向角和方位视向角下的RCS强度值;
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