[发明专利]一种用于中子衍射测量中样品定位的通用型探针夹持装置

权利要求书

1.一种用于中子衍射测量中样品定位的通用型探针夹持装置，其特征在于，包括用于固定探针(01)的夹持机构以及用于实现所述探针(01)绷紧拉直的升降机构；

所述夹持机构包括两个上下相对的夹持组件(7)，通过所述升降机构实现两个夹持组件在竖直方向上的距离可调，所述夹持组件(7)包括紧固件(72)和导套(73)，两个紧固件(72)的相对端设置成锥形结构且内部中空用于插入探针(01)的端头部分，所述紧固件(72)的相对端沿周向分为多个形状、大小相等的扇形压片，所述导套(73)套设在紧固件(72)的相对端上且所述导套(73)的内部腔体设置成与紧固件(72)匹配的锥形结构，通过导套对紧固件的压片产生径向挤压，迫使所有压片同时向中间靠拢，从而实现对中间插入探针的夹紧固定。

2.根据权利要求1所述用于中子衍射测量中样品定位的通用型探针夹持装置，其特征在于，所述升降机构包括从上至下依次设置的顶板(1)、升降台(2)和底座(3)以及竖直设置在所述底座(3)上的支撑导轨(4)和升降杆(5)，所述支撑连导轨(4)的下端与所述底座(3)固连而上端穿过所述升降台(2)并与所述顶板(1)固连，所述升降杆(5)的下端与所述底座(3)之间为可转动连接或间隙配合而上端穿过所述升降台(2)和顶板(1)，且所述升降杆(5)和升降台(2)通过螺纹配合联动设置，通过旋转升降杆使力沿螺纹传递给升降台从而带动所述升降台沿支撑导轨上下运动；两个夹持组件分别设置在所述升降台(2)和底座(3)上。

3.根据权利要求2所述用于中子衍射测量中样品定位的通用型探针夹持装置，其特征在于，还包括备用通孔(8)，所述备用通孔对称设置在所述升降台(2)和底座(3)上且用于实现对探针(01)两端的长久夹持定位。

4.根据权利要求3所述用于中子衍射测量中样品定位的通用型探针夹持装置，其特征在于，所述备用通孔(8)的数量为多组且具有不同直径，各组备用通孔的中轴线与所述紧固件(72)的中轴线位于同一竖直面上。

5.根据权利要求3所述用于中子衍射测量中样品定位的通用型探针夹持装置，其特征在于，还包括一组用于实现任意直径探针的(01)夹持定位的V型槽(9)，所述V型槽(9)对称设置在所述升降台(2)和底座(3)上，且所述V型槽(9)的中轴线与备用通孔(8)的中轴线、紧固件(72)的中轴线位于同一竖直面上。

6.根据权利要求5所述用于中子衍射测量中样品定位的通用型探针夹持装置，其特征在于，所述夹持组件(7)还包括基座(71)，所述基座(71)通过固定螺栓(75)固定设置在所述升降台(2)和底座(3)上，在所述基座(71)上设有用于实现所述紧固件(72)插入固定的卡槽，所述紧固件(72)与该卡槽之间为间隙配合。

7.根据权利要求6所述用于中子衍射测量中样品定位的通用型探针夹持装置，其特征在于，所述夹持组件(7)还包括用于防止所述基座(71)发生周向旋转的紧定螺栓(74)，所述紧定螺栓(74)水平设置在所述升降台(2)和底座(3)上且从侧面对基座进行紧压固定。

8.根据权利要求7所述用于中子衍射测量中样品定位的通用型探针夹持装置，其特征在于，两个紧定螺栓(74)位于所述基座(71)的同一侧。

9.根据权利要求2～8中任意一项所述用于中子衍射测量中样品定位的通用型探针夹持装置，其特征在于，在所述升降杆(5)的上端设有便于施力的把手(6)。

10.根据权利要求9所述用于中子衍射测量中样品定位的通用型探针夹持装置，其特征在于，在所述导套(73)的内侧壁以及所述紧固件(72)或基座(71)的外侧壁上设有匹配的螺纹，通过旋转导套使其向紧固件靠近或远离从而实现对压片的放松和压迫。