[发明专利]一种硬质材料的表面抛光方法在审
申请号: | 201910007865.3 | 申请日: | 2019-01-04 |
公开(公告)号: | CN109623581A | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
发明(设计)人: | 王敬;程海英;宋东波 | 申请(专利权)人: | 芜湖启迪半导体有限公司;清华大学 |
主分类号: | B24B19/22 | 分类号: | B24B19/22;B24B29/02;B24B37/005;B24B57/02;H01L21/304;H01L21/3065 |
代理公司: | 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 | 代理人: | 尹婷婷 |
地址: | 241000 安徽省芜湖市弋江*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 硬质材料表面 等离子体刻蚀处理 表面抛光 晶片抛光 硬质材料 抛光 粗抛 精磨 化学机械抛光 规模化生产 晶片表面 抛光工艺 抛光周期 平坦度 损伤层 耗时 全局 | ||
1.一种硬质材料的表面抛光方法,其特征在于,包括以下步骤:
(1)提供待抛光材料,所述待抛光材料为硬质材料;
(2)对待抛光材料表面进行精磨和/或粗抛;
(3)对待抛光材料已完成精磨和/或粗抛的表面进行等离子体刻蚀;
(4)对待抛光材料已完成等离子体刻蚀的表面进行化学机械抛光。
2.根据权利要求1所述的硬质材料的表面抛光方法,其特征在于,所述硬质材料为莫氏硬度在7.0以上的半导体材料,包括碳化硅、金刚石、氮化硼、氮化镓、氮化铝或蓝宝石。
3.根据权利要求1所述的硬质材料的表面抛光方法,其特征在于,在步骤(2)之后、步骤(3)之前,进一步包括:中间清洗步骤,以去除所述待抛光材料表面的颗粒沾污。
4.根据权利要求1所述的硬质材料的表面抛光方法,其特征在于,在步骤(4)之后,进一步包括:最终清洗步骤,以去除所述硬质材料表面的颗粒和杂质沾污。
5.根据权利要求1所述的硬质材料的表面抛光方法,其特征在于,进行化学机械抛光时,使用的抛光液为酸性。
6.根据权利要求5所述的硬质材料的表面抛光方法,其特征在于,使用的抛光液pH值为0.1~6。
7.根据权利要求1所述的硬质材料的表面抛光方法,其特征在于,进行化学机械抛光时,在使用的抛光液中还加入了氧化剂。
8.权利要求7所述的硬质材料的表面抛光方法,其特征在于,所述氧化剂为过氧化氢、过硫酸、次氯酸、高氯酸、碘酸、高碘酸、过硫酸盐、次氯酸盐、高氯酸盐、碘酸盐、高碘酸盐中的一种或多种。
9.根据权利要求1~8任意一项所述的硬质材料的表面抛光方法制备得到硬质材料晶片,其特征在于,所述硬质材料晶片表面是原子级光滑的,其表面粗糙度为亚纳米级。
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