[发明专利]一种用于中子衍射测量中样品定位的高精度探针夹持装置

权利要求书

1.一种用于中子衍射测量中样品定位的高精度探针夹持装置，其特征在于，包括顶板(1)、底座(2)、上定位件(3)、下定位件(4)、上紧固螺钉(5)和下紧固螺钉(6)；

所述顶板(1)和底座(2)上下设置且在二者间设有多个竖直的支撑连接柱(7)，所述底座(2)直接或间接固定在中子衍射谱仪的样品台(02)上，所述上定位件(3)和下定位件(4)分别设置在所述顶板(1)和底座(2)上且两个定位件在竖直方向上的距离可调，在所述上定位件(3)和下定位件(4)的对应位置分别设有同轴且等直径的通孔以用于容置探针(01)的上下两端，在两个定位件上还分别设有与所述上紧固螺钉(5)和下紧固螺钉(6)匹配的螺纹孔，所述螺纹孔水平设置且一端与定位件内的通孔连通以用于实现紧固螺钉与通孔内探针的接触，两个紧固螺钉上下平行且位于所述探针的同侧方向，通过紧固螺钉的旋进旋出实现对探针两端的夹紧和放松，并通过调整两个定位件间的距离实现对探针的拉直操作。

2.根据权利要求1所述用于中子衍射测量中样品定位的高精度探针夹持装置，其特征在于，所述上定位件(3)和下定位件(4)均通过螺纹分别固定连接在所述顶板(1)和底座(2)上，且在定位件带螺纹一端的穿出部分设置配套的垫片和调整螺母(8)。

3.根据权利要求2所述用于中子衍射测量中样品定位的高精度探针夹持装置，其特征在于，所述支撑连接柱(7)的两端与所述顶板(1)及底座(2)间采用可拆装式连接；或所述支撑连接柱(7)和所述顶板(1)及底座(2)一体成型。

4.根据权利要求3所述用于中子衍射测量中样品定位的高精度探针夹持装置，其特征在于，所述支撑连接柱(7)间隔均匀地分布在以定位件上通孔的轴心线为圆心的圆周上。

5.根据权利要求4所述用于中子衍射测量中样品定位的高精度探针夹持装置，其特征在于，两个定位件上的通孔为所述顶板(1)、底座(2)、上定位件(3)、下定位件(4)和连接柱(7)装配成一体后一次加工成型，以确保上下两个通孔间的同轴度，进而保证被夹持探针相对于底座(2)的垂直度以及中子衍射测量时对样品的定位精度。

6.根据权利要求5所述用于中子衍射测量中样品定位的高精度探针夹持装置，其特征在于，在所述底座(2)上还设有多个用于实现其与样品台(02)间固连的螺栓连接孔；或在所述底座(2)的下方设置连接底盘(9)且在所述连接底盘(9)上设有多个用于实现其与样品台(02)间固连的螺栓连接孔。

7.根据权利要求6所述用于中子衍射测量中样品定位的高精度探针夹持装置，其特征在于，当所述探针夹持装置还包括连接底盘(9)时，在所述连接底盘(9)的底部设有空腔，所述空腔用于容置下定位件(4)的一端及下紧固螺钉(6)，或用于容置下定位件(4)的一端及调整螺母(8)。

8.根据权利要求7所述用于中子衍射测量中样品定位的高精度探针夹持装置，其特征在于，所述底座(2)和连接底盘(9)间通过连接螺钉(10)固连，或二者一体成型。