[发明专利]辐射检查设备和辐射检查方法在审

专利信息
申请号: 201910008952.0 申请日: 2019-01-04
公开(公告)号: CN109521480A 公开(公告)日: 2019-03-26
发明(设计)人: 陈志强;李元景;张丽;李荐民;孙尚民;宗春光;胡煜;宋全伟;周合军;喻卫丰;曹金国;傅冰 申请(专利权)人: 同方威视科技(北京)有限公司;同方威视技术股份有限公司;清华大学
主分类号: G01V5/00 分类号: G01V5/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 艾春慧
地址: 101500 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 辐射检查设备 辐射探测装置 检查通道 被检物 扫描检查 射线源 行走轮 辐射 检查 连续扫描 使用效率 可旋转 延伸 探测器 多排 垂直 配合
【权利要求书】:

1.一种辐射检查设备(20),其特征在于,包括:

辐射探测装置,包括射线源和与所述射线源配合以对被检物(10)进行扫描检查的探测器,所述辐射探测装置具有用于被检物(10)在接受扫描检查时通过的检查通道;和

行走轮,设置于所述辐射探测装置的底部,用于所述辐射检查设备(20)沿所述检查通道的延伸方向行走,其中,所述行走轮设置为可旋转90°以使所述辐射检查设备(20)沿垂直于所述检查通道的延伸方向的方向行走。

2.根据权利要求1所述的辐射检查设备(20),其特征在于,所述辐射检查设备(20)可180°旋转调头。

3.根据权利要求1所述的辐射检查设备(20),其特征在于,所述射线源设置为其发出的射线束与所述检查通道的延伸方向的夹角可变,所述探测器设置为相应于所述射线束的角度变化改变位置。

4.根据权利要求3所述的辐射检查设备(20),其特征在于,所述射线源设置为其发出的射线束与所述检查通道的延伸方向的夹角在90±θ°的范围内可变,其中0<θ≤15°。

5.根据权利要求3所述的辐射检查设备(20),其特征在于,所述辐射探测装置包括透射检查装置,所述透射检查装置的所述射线源和所述探测器分设于所述检查通道的两侧并通过臂架连接,所述臂架带动所述探测器移动以使所述探测器相应于所述射线束的角度变化改变位置。

6.根据权利要求1所述的辐射检查设备(20),其特征在于,

所述辐射检查设备(20)的扫描速度可变地设置;和/或

所述射线源的出束频率可变地设置。

7.一种应用权利要求1至6任一所述的辐射检查设备(20)的辐射检查方法,其特征在于,包括:

所述辐射检查设备(20)对一排成排的多个被检物(10)进行扫描检查;

对一排成排的多个被检物(10)完成扫描检查后,使所述辐射检查设备(20)的行走轮原地转动90°并使所述辐射检查装置沿垂直于所述检查通道的延伸方向的方向行走至检查通道与另一排成排的多个被检物(10)相对;

所述辐射检查设备(20)对所述另一排成排的多个被检物(10)进行扫描检查。

8.根据权利要求7所述的辐射检查方法,其特征在于,所述辐射检查设备(20)对所述成排的多个被检物(10)进行扫描检查包括使所述成排的多个被检物(10)从所述检查通道的一端向另一端通过以对所述成排的被检物(10)的第一侧进行扫描检查。

9.根据权利要求8所述的辐射检查方法,其特征在于,所述辐射检查设备(20)对成排的多个被检物(10)进行扫描检查还包括对所述成排的被检物(10)的第一侧进行扫描检查完成后,使所述辐射检查设备(20)进行180°旋转调头,并使所述成排的多个被检物(10)从所述检查通道的所述另一端向所述一端通过以对所述成排的被检物(10)的第二侧进行扫描检查。

10.根据权利要求7所述的辐射检查方法,其特征在于,所述辐射检查设备(20)对成排的多个被检物(10)进行扫描检查包括旋转所述辐射探测装置的所述射线源的射线束使所述射线束与所述检查通道的延伸方向的夹角变化,所述探测器相应于所述射线束的角度变化改变位置以对所述被检物(10)进行不同角度的扫描检查。

11.根据权利要求10所述的辐射检查方法,其特征在于,使所述射线束与所述检查通道的延伸方向的夹角在90±θ°的范围内变化,其中,0<θ≤15°。

12.根据权利要求7所述的辐射检查方法,其特征在于,所述辐射检查设备(20)对成排的多个被检物(10)进行扫描检查包括:

改变所述辐射检查设备(20)的扫描速度;和/或

改变所述射线源的出束频率。

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