[发明专利]一种非接触式测量发射导轨扰动的方法

权利要求书

1.一种非接触式测量发射导轨扰动的方法，包括白板靶(1)、光斑(2)、高速录像(3)、激光路(4)、小型激光器(5)与发射导轨(6)，其特征在于：所述发射导轨(6)的上端固定安装有小型激光器(5)，所述高速录像(3)位于白板靶(1)的的侧前方，所述光斑(2)位于白板靶(1)的外表面，所述激光路(4)的一端位于小型激光器(5)的一侧外表面。

2.根据权利要求1所述的一种非接触式测量发射导轨扰动的方法，其特征在于：所述小型激光器(5)的一侧外表面设置有激光器转接装置，所述发射导轨(6)的一侧设置有激光器电源。

3.根据权利要求1所述的一种非接触式测量发射导轨扰动的方法，包括以下步骤：

(S1)将小型激光器(5)通过转接装置粘贴在发射导轨(6)上，转接装置可调整激光器的俯仰、偏航角度；

(S11)在发射导轨(6)前方15m、侧向1.5m处立靶，靶面标出正方形边框线和中心点；

(S12)调整激光器角度，使其光斑(2)在靶面中心成像；

(S13)飞行器发射过程中，拍摄靶面的高速录像(3)；

(S14)以圆形光斑(2)图案为模版，软件自动识别出高速录像(3)每帧中的光斑(2)位置；

(S15)受高速录像(3)拍摄角度影响，靶纸边框成像通常为不规则四边形，因此根据边框线顶点位置对各个时刻光斑(2)位置进行校正；

(S16)利用校正后的光斑(2)高低、方位位置信息，结合靶面与发射导轨(6)的相对位置关系，即可计算出发射导轨(6)俯仰、偏航姿态随时间变化的数据。