[发明专利]一种基于光学干涉仪的多波长计在审
| 申请号： | 201910010675.7 | 申请日： | 2019-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN109489837A | 公开（公告）日： | 2019-03-19 |
| 发明（设计）人： | 陈珂;王晓娜 | 申请（专利权）人： | 大连理工大学 |
| 主分类号： | G01J9/02 | 分类号： | G01J9/02 |
| 代理公司： | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人： | 温福雪;侯明远 |
| 地址： | 116024 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 多波长 干涉图像 平行板 波长 测量 光扩散元件 光探测器 光学干涉 透明 光学测量技术 电路板 光线收集器 光电器件 光线入射 结构增加 扫描光学 波长计 低成本 干涉仪 上表面 下表面 遮光盒 按键 干涉 测光 线阵 显示屏 反射 | ||
1.一种基于光学干涉仪的多波长计，其特征在于，所述的基于光学干涉仪的多波长计包括光线收集器(1)、光扩散元件(2)、透明平行板(3)、线阵光探测器(4)、遮光盒(5)、电路板(6)、按键(7)和显示屏(8)；光扩散元件(2)、透明平行板(3)、线阵光探测器(4)和电路板(6)均置于遮光盒(5)中；电路板(6)接收按键(7)的控制信号，对工作参数进行设置；待测光被光线收集器(1)收集，经光扩散元件(2)后，入射到透明平行板(3)，反射光被线阵光探测器(4)接收；电路板(6)中的信号处理器对线阵光探测器(4)探测的光信号预处理后，再通过高精度频率测量法计算出干涉图像频率；电路板(6)中的信号处理器根据波长与干涉图像频率之间的关系反演得到波长，并将测量到的波长结果显示于显示屏(8)。
2.根据权利要求1所述的基于光学干涉仪的多波长计，其特征在于，所述的光扩散元件(2)是一种光源空间扩展器件。
3.根据权利要求1或2所述的基于光学干涉仪的多波长计，其特征在于，所述的透明平行板(3)的厚度小于500微米。
4.根据权利要求1或2所述的基于光学干涉仪的多波长计，其特征在于，所述的待测光的轴向方向与透明平行板5的夹角大于透明平行板5的布鲁斯特角。
5.根据权利要求3所述的基于光学干涉仪的多波长计，其特征在于，所述的待测光的轴向方向与透明平行板5的夹角大于透明平行板5的布鲁斯特角。
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