[发明专利]一种基于NVME协议测试断电保护的系统

说明书

本发明涉及一种基于NVME协议测试断电保护的系统，包括单片机单元，及与其连接的pc单元；所述单片机单元包括微处理器，单片机最小模块，开关模块，串口模块，指示灯模块，功能按键模块，及数码管显示模块；所述开关模块，及串口模块与所述pc单元连接。本发明解决了手动测试断电保护繁琐、手动模拟强制关机的时间难以把握的问题，大大节省了测试时间，提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及储存技术领域，更具体地说是指一种基于NVME协议测试断电保护的系统。

背景技术

电脑突然的断电会导致SSD在其缓存(DRAM)中丢失用户数据以及重要的内部数据，所以在电脑真正断电前，需要有足够的时间把DRAM中的数据写入到NAND中稳定保存，这显得尤其重要。

目前很多客户对这项断电保护(PLP)技术十分青睐，SSD研发者对PLP的研究也十分重视。同时，针对PLP在研发阶段的测试，现有的技术中，一般都是手动下命令去查询该SSD是否有PLP功能，然后手动下命令开启PLP，然后在厂商规定的时间内不停地手动去模拟强制关机，最后再手动下命令读取当前完成和没有完成PLP的次数；这种手动测试方案在研发测试过程中显得十分繁琐，而且每个厂商规定SSD完成PLP的最长时间都不一样，对于手动模拟强制关机的时间更加难以把握；若这种方案应用在产线大批量的测试中，往往需要更多人的配合，工作量大，耗时费力，人力成本较高，测试效率低下。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种基于NVME协议测试断电保护的系统。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

一种基于NVME协议测试断电保护的系统，包括单片机单元，及与其连接的pc单元；所述单片机单元包括微处理器，单片机最小模块，开关模块，串口模块，指示灯模块，功能按键模块，及数码管显示模块；所述开关模块，及串口模块与所述pc单元连接。

其进一步技术方案为：所述pc单元包括测试软件工具，硬件模块，及待测SSD；所述测试软件工具中设有控制SSD的命令代码，包括开启断电保护命令，读取断电保护开启状态命令，读取控制器数据命令，及读取测试统计数据命令。

其进一步技术方案为：所述微处理器的型号为IAP15W4K58S4。

其进一步技术方案为：所述单片机最小模块包括电容C1，电容C2，外部晶振，极性电容C4，重置按钮，及电阻R1；所述电容C1的第一端和电容C2的第一端分别与微处理器的XTAL1接脚和XTAL2接脚连接，电容C1的第二端和电容C2的第二端均接地；所述外部晶振的第一端与XTAL1接脚连接，第二端与XTAL2接脚连接；所述极性电容C4与重置按钮并联后与微处理器的RST接脚连接，同时与电阻R1进行串联接地。

其进一步技术方案为：所述开关模块包括继电器，三极管Q1，上拉电阻R2，上拉电阻R4，及上拉电阻R5；所述继电器的触发端口与微处理器的P1.0接脚进行电连接，继电器的1，2端口分别与pc单元的电源键正极与负极相连接，电源的正极还与三极管Q1的基极连接，三极管Q1的集电极与待测SSD的M.2接口相连接，三极管Q1的发射极与电源负极均接地。

其进一步技术方案为：所述上拉电阻R2，上拉电阻R4，及上拉电阻R5还分别与电源VCC连接，用于输出稳定电压；所述三极管Q1采用PNP结。

其进一步技术方案为：所述串口模块包括USB转串口和USB接口；所述USB转串口的数据发送端口TXD，数据接收端口RXD，及触发端口TRIP分别与微处理器的P3.0接脚，P3.1接脚，及P3.2接脚连接；所述USB转串口的电源端VCC，数据端D-，数据端D+，及接地端GND分别与USB接口的VCC、D+、D-及GND进行电连接；USB接口还与PC单元连接。