[发明专利]一种发光二极管的外延片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910012387.5 申请日: 2019-01-07
公开(公告)号: CN109768132B 公开(公告)日: 2020-08-14
发明(设计)人: 丁涛;周飚;胡加辉;李鹏 申请(专利权)人: 华灿光电(浙江)有限公司
主分类号: H01L33/04 分类号: H01L33/04;H01L33/20;H01L33/00;B82Y40/00
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 徐立
地址: 322000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 发光二极管 外延 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种发光二极管的外延片,其特征在于,所述外延片包括衬底及依次层叠在所述衬底上的石墨烯层、InGaN量子点层、未掺杂GaN层、N型GaN层、多量子阱层及P型GaN层,其中,所述InGaN量子点层的厚度为1~10nm,所述InGaN量子点层包括多个均布在所述石墨烯层上且相互间隔的InGaN量子点结构,所述InGaN量子点结构为所述未掺杂GaN层的成核点。

2.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述石墨烯层的厚度为1~100nm。

3.一种发光二极管的外延片的制备方法,其特征在于,所述方法包括:

提供一衬底;

在所述衬底上生长石墨烯层;

在反应腔的温度为700~800℃时,向反应腔内通入NH3、100~2000sccm的In源与Ga源,在所述石墨烯层上生长InGaN量子点层,所述InGaN量子点层的厚度为1~10nm,所述InGaN量子点层包括多个均布在所述石墨烯层上且相互间隔的InGaN量子点结构;

向所述反应腔内通入NH3与Ga源,以所述InGaN量子点结构为成核点,生长未掺杂GaN层;

在所述未掺杂GaN层上生长N型GaN层;

在所述N型GaN层上生长多量子阱层;

在所述多量子阱层上生长P型GaN层。

4.根据权利要求3所述的制备方法,其特征在于,在所述石墨烯层上生长InGaN量子点层时,向反应腔内通入100~1000sccm的Ga源。

5.根据权利要求3所述的制备方法,其特征在于,在所述石墨烯层上生长InGaN量子点层时,向反应腔内通入1000~40000sccm的NH3

6.根据权利要求3~5任一项所述的制备方法,其特征在于,所述InGaN量子点层的生长时间为1~10min。

7.根据权利要求3~5任一项所述的制备方法,其特征在于,所述未掺杂GaN层的生长时间为1~20min。

8.根据权利要求3~5任一项所述的制备方法,其特征在于,所述石墨烯的生长温度为1000~1500℃。

9.根据权利要求3~5任一项所述的制备方法,其特征在于,在所述石墨烯层上生长InGaN量子点层时,使用氢气与氮气作为载气向反应腔内通入NH3、In源与Ga源。

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