[发明专利]扬声器寿命测试系统

权利要求书

1.一种扬声器寿命测试系统，其特征在于，包括：寿命测试板、多个位移传感器以及上位机；所述寿命测试板上设置有单片机、多个测流电阻、多路差分电压信号测量模块、多个功放芯片以及多个温度传感器；

所述测流电阻、所述多路差分电压信号测量模块中的一路、所述功放芯片、所述温度传感器以及所述位移传感器一一对应，每个所述测流电阻与一扬声器串联连接；所述多路差分电压信号测量模块、每个所述功放芯片以及每个所述温度传感器均与所述单片机连接；所述单片机和每个所述位移传感器均与所述上位机连接；每个所述功放芯片与对应的所述测流电阻连接的扬声器相连；

所述多路差分电压信号测量模块中的一路用于测量对应的所述测流电阻两端的电压，以及用于测量对应的所述测流电阻连接的扬声器中线圈两端的电压；每个所述温度传感器用于测量对应的所述测流电阻所处的环境温度，每个所述位移传感器用于测量对应的所述测流电阻连接的扬声器中振膜的振幅；

所述单片机用于获取每个所述测流电阻两端的电压以及每个所述测流电阻所处的环境温度，并基于每个所述测流电阻两端的电压、每个所述测流电阻的阻值以及每个所述测流电阻所处的环境温度，确定流过每个测流电阻的电流；

所述单片机还用于获取每个所述测流电阻连接的扬声器中线圈两端的电压，并与每个所述测流电阻两端的电压、每个所述测流电阻所处的环境温度以及流过每个所述测流电阻的电流进行汇总，汇总后发送至所述上位机；

所述上位机用于在每个所述测流电阻连接的扬声器的输入信号为扫频信号时，基于所述单片机发送的信息，实时确定每个所述测流电阻连接的扬声器是否被损坏；

所述上位机还用于：

基于每个所述测流电阻连接的扬声器中线圈两端的电压、流过每个所述测流电阻的电流，确定每个所述测流电阻连接的扬声器的实时功率；基于每个所述测流电阻连接的扬声器的实时功率以及扬声器额定功率，确定每个所述测流电阻连接的扬声器在功率保护算法保护下，实时功率能否稳定在所述扬声器额定功率；

所述上位机还用于：

基于目标频率下每个所述测流电阻连接的扬声器的线圈温度，以及所述目标频率下的扬声器线圈温度安全范围，确定每个所述测流电阻连接的扬声器在温度保护算法保护下，线圈温度能否稳定在所述扬声器线圈温度安全范围内；

所述上位机还用于：

基于每个所述测流电阻连接的扬声器中振膜的振幅，以及振幅物理极限，确定每个所述测流电阻连接的扬声器在振幅保护算法保护下，振膜的振幅能否稳定在振幅安全范围内。

2.根据权利要求1所述的扬声器寿命测试系统，其特征在于，所述单片机还用于：

对每个所述功放芯片的寄存器进行读写配置。

3.根据权利要求1所述的扬声器寿命测试系统，其特征在于，所述上位机具体用于：

在每个所述测流电阻连接的扬声器的输入信号为扫频信号时，对每个所述测流电阻连接的扬声器中线圈两端的电压以及流过每个所述测流电阻的电流分别进行幅频分析，确定不同频率下每个所述测流电阻连接的扬声器的阻抗；

基于不同频率下每个所述测流电阻连接的扬声器的阻抗，确定每个所述测流电阻连接的扬声器是否被损坏。

4.根据权利要求3所述的扬声器寿命测试系统，其特征在于，所述上位机还用于：

基于目标频率下每个所述测流电阻连接的扬声器的阻抗，以及所述目标频率下每个所述测流电阻连接的扬声器的阻抗与线圈温度之间的对应关系，对所述目标频率下每个所述测流电阻连接的扬声器的线圈温度进行监控。

5.根据权利要求4所述的扬声器寿命测试系统，其特征在于，所述上位机还用于：

每个所述测流电阻连接的扬声器在功率保护算法保护下实时功率稳定在所述扬声器额定功率后，基于所述目标频率下每个所述测流电阻连接的扬声器的线圈温度，以及所述目标频率下的扬声器线圈温度安全范围，确定每个所述测流电阻连接的扬声器的线圈温度能否稳定在所述扬声器线圈温度安全范围内。

6.根据权利要求1所述的扬声器寿命测试系统，其特征在于，所述上位机还用于：

对所述单片机发送的信息、每个所述测流电阻连接的扬声器中振膜的振幅以及每个所述测流电阻连接的扬声器的实时功率进行显示。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的扬声器寿命测试系统，其特征在于，所述上位机还用于：

对每个所述测流电阻连接的扬声器中线圈两端的电压进行谐波分析，确定每个所述测流电阻连接的扬声器中线圈两端的电压的谐波失真度。