[发明专利]一种电容量和介损标准器有效

专利信息
申请号: 201910015850.1 申请日: 2019-01-08
公开(公告)号: CN109581264B 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 任守华;任翔 申请(专利权)人: 任守华
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 济南信达专利事务所有限公司 37100 代理人: 孙园园
地址: 250101 山东省济*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 容量 标准
【说明书】:

发明公开了一种电容量和介损标准器,属于电力设备电容量和介质损耗因数测量领域,要解决的技术问题为如何实现多种电容量可调节、介损能随频率实时调整、可以测量试验电压以及可施加工频干扰电流;其结构包括标准电容C、可调电阻R和补偿电容C1、采样电阻R1、运算放大器OPA、超前补偿电阻R2、超前补偿电容C2、可调电阻网络W、控制器CPU和电源变压器T。该标准器具备多种电容量可调节、介损能随频率实时调整、可以测量试验电压以及可施加工频干扰电流的功能,与传统标准器相比,能更全面更方便地对介损仪进行检定。

技术领域

本发明涉及电力设备电容量和介质损耗因数测量领域,具体地说是一种电容量和介损标准器。

背景技术

电容量和介质损耗因数(下称介损)是电容器或电力电容性设备的重要指标,介质损耗因数测量仪(下称介损仪)是测量电容量和介损的常规仪器,校验介损仪时需要用到电容量和介损标准器。

电阻R和电容C串联,如图1(a)所示,其等效介损为:

tgδ=ωCR (1)

ω=2πF,F为测量频率,一般是指电网频率50HZ。实际情况是如果按照(1)式配置R,介损总是偏大的。原因为:电容C的低压端X对大地或屏蔽端N之间存在杂散电容C1,如图1(b)所示,在交流电路中电容C和杂散电容C1是并联关系,此时需要通过下式计算介损:

tgδ=ω(C+C1)R (2)

传统标准器的稳定性不好,原因之一是杂散电容C1不稳定,之二是高阻值电阻R表面泄露不稳定。(2)式给问题解决带来了突破:如果X和N之间并联一个补偿电容,使得C+C1增加,杂散电容的影响会相对减少,同时还能采用低阻值R,表面泄漏影响也会相对减小,这样会大大提高标准器的稳定性。对C=100pF标准电容而言,C1大约为20pF,可以增加一个2000pF左右的补偿电容,使得C+C1增加20倍左右。但是增加太多也不好,如果补偿电容取得过大,与R串联的介损仪输入电阻和引线电阻又会引起误差。

同时做出的改进是,R采用11个电阻加电位器串联形成11个介损档位,每个档位两端并联了继电器触点,如图1(c)所示。通过调整电位器,使得每个档位对应下表的介损值:

表1:各档位介损标准值

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于任守华,未经任守华许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910015850.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top