[发明专利]电子元件作业设备在审
申请号: | 201910017084.2 | 申请日: | 2019-01-08 |
公开(公告)号: | CN111415880A | 公开(公告)日: | 2020-07-14 |
发明(设计)人: | 陈朝栋 | 申请(专利权)人: | 鸿劲精密股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人: | 孙皓晨;李林 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子元件 作业 设备 | ||
本发明提供一种电子元件作业设备,其输送装置系以移框器于供料装置取出具有电子元件的第一载框模块,并移载至承载装置的第一承置座前方,该承载装置系以第一定位部件将第一载框模块定位于第一承置座,输送装置系以转位器上的拾取器于承载装置的第一载框模块取出电子元件,并以转位器旋转带动拾取器及电子元件换位至收料装置,拾取器将电子元件转载移置于收料装置收料,达到便利挑料及转载收料的实用效益。
技术领域
本发明涉及一种便利挑料及转载收料的电子元件作业设备。
背景技术
在现今,电子元件(如晶圆)的后段制程系将已测试的晶圆切割成复数个晶片,为避免晶圆于切割过程中产生移动,系将晶圆贴置于一第一载框模块;请参阅图1,该第一载框模块11具有一中空的第一框架111,并在第一框架111的中空部位贴置有第一胶膜112,该第一胶膜112则供贴置一晶圆12定位,以利将晶圆12切割成复数个晶片121、122。
然而部分业者为确保晶片121、122的出厂品质,将具有复数个晶片121、122的第一载框模块11搬运至晶片测试机进行晶片测试作业,于测试完毕后,第一载框模块11则同时贴置有良品的晶片121及不良品的晶片122,由于客户端或下一制程并无法接受不良品的晶片122;因此,业者必须以人工方式于第一载框模块11上先行取出良品的晶片121,并将复数个良品的晶片121转换贴置于一第二载框模块收置,以便输出一全部贴置复数个良品晶片121的第二载框模块;然而,第一载框模块11贴置数量繁多且体积小的良品晶片121及不良品的晶片122,以人工方式逐一将良品的晶片121取出,不仅耗时费工,易发生晶片121于取出过程不慎掉落损坏的问题;即便人工顺利于第一载框模块11取出良品的晶片121,仍必须以人工方式将复数个良品的晶片121逐一贴置于新的第二载框模块方能出货,以致转载贴料制程也相当耗时费工,故不论是取料或转载贴料均无法有效提高生产效能。
发明内容
本发明的目的在于:提供一种电子元件作业设备,解决现有技术中存在的上述技术问题。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:
一种电子元件作业设备,其特征在于,包含:
机台;
供料装置:装配于该机台上,并设有至少一供料承置器,以承置至少一具有电子元件的第一载框模块;
承载装置:装配于该机台上,并设有至少一第一承置座,以承置该第一载框模块,还在该第一承置座设有至少一第一定位部件,以定位该第一载框模块;
收料装置:装配于该机台上,并设有至少一收料承置器,以收置至少一电子元件;
输送装置:装配于该机台上,并设有至少一第一移框器,以在该供料装置及该承载装置之间移载该第一载框模块,还设置至少一转位器,以旋转驱动至少一拾取器位移,该拾取器是在该承载装置的第一载框模块及该收料装置的收料承置器之间转载电子元件;
中央控制装置:用以控制及整合各装置动作,以执行自动化作业。
所述的电子元件作业设备,其中,该供料装置设有供料驱动器,以驱动该供料承置器作第一方向位移。
所述的电子元件作业设备,其中,该承载装置设有第一承载驱动器,以驱动该第一承置座作至少一方向位移。
所述的电子元件作业设备,其中,该承载装置还包含剥离模块,以剥离电子元件及该第一载框模块。
所述的电子元件作业设备,其中,该收料装置设有收料驱动器,以驱动至少一收料仓匣作第一方向位移,该收料仓匣容置至少一收料承置器。
所述的电子元件作业设备,其中,该收料装置设置收料单元,该收料单元设有至少一第二承置座,以承置该收料承置器,并在该第二承置座设置至少一第二定位部件,以定位该收料承置器。
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