[发明专利]大长径比轴孔装配分析系统及方法

权利要求书

1.一种大长径比轴孔装配分析方法，其特征在于：

步骤一，受力分析机构(2)实时接收姿态传感器(1a)和力传感器(1b)检测的装配端的三轴位姿参数I₁、三轴接触力数据I₂、三轴力矩数据I₃；

步骤二，接触点判断单元通过三轴接触力数据I₂、三轴力矩数据I₃识别大长径比轴孔接触点的数量，若接触点为1个，进入步骤三，若接触点为2个，进入步骤四；

步骤三，单点接触分析模块(2b)根据三轴位姿参数I₁、三轴接触力数据I₂、三轴力矩数据I₃计算轴孔单点反作用力N与单点阻力f，进入步骤五；

步骤四，两点接触分析模块(2c)根据三轴位姿参数I₁、三轴接触力数据I₂、三轴力矩数据I₃计算轴孔两点反作用力N₁、N₂，以及两点阻力f₁、f₂，进入步骤六；

步骤五，分析结果判断单元分析步骤三的计算结果：

若N≥A_N，f≥A_f，A_N为单点反作用力阈值，A_f为单点阻力阈值，则分析结果为装配角度需调整，否则分析结果为正常装配；

输出分析结果；

步骤六，分析结果判断单元分析步骤四的计算结果：

若N₁≥A_N1，N₂≥A_N2，f₁≥A_f1，f₂≥A_f2，A_N1、A_N2为两点反作用力阈值，A_f1、A_f2为两点阻力阈值，则分析结果为装配角度需调整，否则分析结果为正常装配；

输出分析结果。

2.根据权利要求1所述的大长径比轴孔装配分析方法，其特征在于：步骤三计算轴孔单点反作用力N与单点阻力f的方法如下：

S3.1，根据装配的接触点确定分析面X-O-Z，所述分析面X-O-Z为显示有所有接触点的大长径比轴的轴剖面；

S3.2，分解所述三轴位姿参数I₁、三轴接触力数据I₂、三轴力矩数据I₃，得到基于所述分析面X-O-Z的接触力F_x、F_z、力矩T_y、轴孔偏转夹角θ、轴长l、轴径d，其中，F_z为轴心方向的接触力，F_x为垂直于轴心方向的接触力，T_y为垂直于分析面X-O-Z的力矩；

S3.3，根据以下公式组，将S3.2分解得到的数据代入计算：

得到轴孔单点反作用力N与单点阻力f。

3.根据权利要求1所述的大长径比轴孔装配分析方法，其特征在于：步骤四计算轴孔两点反作用力N₁、N₂，以及两点阻力f₁、f₂的方法如下：

S4.1，根据装配的接触点确定分析面X-O-Z，所述分析面X-O-Z为显示有所有接触点的大长径比轴的轴剖面；

S4.2，分解所述三轴位姿参数I₁、三轴接触力数据I₂、三轴力矩数据I₃，得到基于所述分析面X-O-Z的接触力F_x、F_z、力矩T_y、轴孔偏转夹角θ、轴长l、轴径d、未插入的轴长h，其中，F_z为轴心方向的接触力，F_x为垂直于轴心方向的接触力，T_y为垂直于分析面X-O-Z的力矩；

S4.3，根据以下公式组，将S3.2分解得到的数据代入计算：

得到轴孔两点反作用力N₁、N₂，以及两点阻力f₁、f₂。