[发明专利]一种减少机台差异对模组一致性影响的方法有效
申请号: | 201910022973.8 | 申请日: | 2019-01-10 |
公开(公告)号: | CN109587476B | 公开(公告)日: | 2020-10-02 |
发明(设计)人: | 骆淑君;李江迪;许烨焓 | 申请(专利权)人: | 横店集团东磁有限公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人: | 刘正君 |
地址: | 322118 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 减少 机台 差异 模组 一致性 影响 方法 | ||
1.一种减少机台差异对模组一致性影响的方法,机台包括基准机台和校准机台,其特征在于:包括以下步骤:
S1.在基准机台上用一定数量的模组选取出目标模组;
S2.在校准机台上获取目标模组的效果参数;
S3.根据目标模组在基准机台和校正机台上的效果参数计算差异系数;计算差异系数采用以下公式:
KRG=RG基准机台/ RG校准机台
KBG=BG基准机台/ BG校准机台
其中KRG和KBG分别为R/G值和B/G值的差异系数,RG基准机台为目标模组在基准机台上的R/G值,RG校准机台为目标模组在校准机台上的R/G值,BG基准机台为目标模组在基准机台上的B/G值,BG校准机台为目标模组在校准机台上的B/G值;
S4.比较目标模组在基准机台和校准机台上效果参数的差异,在差异超标时,将校准机台上的模组效果参数乘上差异系数进行校准,然后存储到芯片中,具体步骤为:
S41.计算目标模组在基准机台和校准机台上效果参数的差异,采用以下公式:
Distance=sqrt(((RG校准机台- RG基准机台)/ RG基准机台)^2+((BG校准机台- BG基准机台)/ BG基准机台)^2)
其中Distance为差异值;
S42.比较差异值是否大于预设阈值,若否,判断未超标,按照原来的效果参数,若是,判断超标,将校准机台上的模组效果参数乘上差异系数,获得校准后的效果参数,
RG校准= KRG* RG校准机台
BG校准= KBG* BG校准机台
将校准后的效果参数存储到芯片中。
2.根据权利要求1所述的一种减少机台差异对模组一致性影响的方法,其特征是步骤S1中选取目标模组的具体步骤为:
S11.在基准机台上对不少于200个基数的模组效果参数R/G、B/G值进行统计;
S12.计算出这些模组的平均R/G值和平均B/G值;
S13.选取出效果参数R/G值和B/G值都接近平均R/G值和平均B/G值的模组,作为目标模组;
S14.获取基准机台上目标模组在的效果参数。
3.根据权利要求1或2所述的一种减少机台差异对模组一致性影响的方法,其特征是还包括步骤S5,检测校准机台运行时间是否超过设定的时间,若否继续检测校准机台运行时间,若是重复步骤S1-S4的操作,对校准机台再次做校准。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于横店集团东磁有限公司,未经横店集团东磁有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910022973.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。