[发明专利]用于远紫外波段带外杂散光差分测量的滤光片轮及方法有效
| 申请号： | 201910023026.0 | 申请日： | 2019-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN111426380B | 公开（公告）日： | 2021-01-08 |
| 发明（设计）人： | 付利平;贾楠;彭如意;王天放;石恩涛;王海涛;许丽颖;李威;王晓峰;于迎军 | 申请（专利权）人： | 中国科学院国家空间科学中心;上海卫星工程研究所 |
| 主分类号： | G01J3/02 | 分类号： | G01J3/02;G01V8/10 |
| 代理公司： | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人： | 陈琳琳;张红生 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 紫外 波段 带外杂 散光 测量 滤光 方法 | ||
1.一种远紫外波段带外杂散光差分测量方法，所述测量方法包括以下步骤：
1)将大气辐射通过反射光学元件反射到达滤光片轮；
2)测量夜间气辉时，首先将滤光片轮工作区域转到通孔，测量包括135.6nm气辉辐射和部分190nm以上的月光、地球散射光的辐射信号；测量完毕后滤光片轮转到石英晶体滤光片的位置，利用石英晶体滤光片测量190nm以上的月光及地球散射光辐射；测量完成，在进行数据处理时将通孔位置测量的信号减去石英晶体滤光片的位置测量的信号，得到夜间135.6nm的气辉；
测量白天气辉时，首先将滤光片轮工作区域转到135.6nm带通滤光片的位置，测量135.6nm辐射及190nm以上太阳后向散射的总辐射强度；测量完成后转到LBH带通滤光片的位置，测量LBH带辐射及190nm以上太阳后向散射的总辐射强度；测量完成后，转到LBH带通滤光片和石英晶体滤光片的组合位置，通过LBH带滤光片和石英晶体滤光片叠加测量，获得190nm以上太阳后向散射辐射强度；
测量完成，在进行数据处理时将135.6nm带通滤光片的位置测量的数据减去LBH带通滤光片和石英晶体滤光片的组合位置测量的数据，得到剔除太阳后向散射后135.6nm的辐射强度；将LBH带通滤光片的位置测量的数据减去LBH带通滤光片和石英晶体滤光片的组合位置测量的数据，获得LBH带的辐射强度；
所述滤光片轮包括轮盘(1)，所述轮盘(1)上设置四个圆孔和通孔(2)；
四个圆孔中，第一个圆孔中安装LBH带通滤光片与石英晶体滤光片的组合滤光片，第二个圆孔中安装LBH带通滤光片，第三个圆孔中安装135.6nm带通滤光片，第四个圆孔中安装石英晶体滤光片。
2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，采用压片将滤光片固定安装在圆孔中。
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