[发明专利]一种激光熔覆熔覆层致密度测量方法在审
申请号: | 201910024244.6 | 申请日: | 2019-01-10 |
公开(公告)号: | CN109738332A | 公开(公告)日: | 2019-05-10 |
发明(设计)人: | 孙首群;焦玉格;盛荣;张亚普;宣立明;曹雪伟 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | G01N9/02 | 分类号: | G01N9/02 |
代理公司: | 上海邦德专利代理事务所(普通合伙) 31312 | 代理人: | 余昌昊 |
地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光熔覆 熔覆层 密度测量 表面打磨 过程工艺 结果分析 选择提供 线切割 去污 测量 腐蚀 | ||
1.一种激光熔覆熔覆层致密度测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一:利用半导体激光器在基体上进行激光熔覆,获得熔覆层;
步骤二:利用线切割方式在所述熔覆层表面取样;
步骤三:对试样进行表面打磨、表面清理和去油污处理;
步骤四:对所述试样进行干燥,并且测出试样的体积V和质量m1;
步骤五:将所述试样放在盛有玉米油的半开口烧杯的杯口,进行干燥以及真空处理;
步骤六:将所述试样置于所述烧杯内,并将少量玉米油压入所述试样中;
步骤七:将所述试样取出,对所述试样进行表面去油处理;
步骤八:测出所述试样的质量m2,并且计算出玉米油浸入所述试样的质量为Δm;
步骤九:计算得出玉米油浸入所述试样的体积ΔV;
步骤十:通过公式计算得出激光熔覆熔覆层的致密度δ。
2.根据权利要求1所述的激光熔覆熔覆层致密度测量方法,其特征在于,在步骤一中,利用最高输出功率表为3000W的半导体激光器在基体上进行激光熔覆,并且进行多层累加,以获得一定厚度的熔覆层。
3.根据权利要求1所述的激光熔覆熔覆层致密度测量方法,其特征在于,在步骤三中,采用400目的砂纸对所述试样表面进行打磨;利用超声波清洗仪器进行表面清理和去油污处理。
4.根据权利要求1所述的激光熔覆熔覆层致密度测量方法,其特征在于,在步骤四中,利用干燥箱对所述试样进行干燥;通过万分位精密天平测出质量m1。
5.根据权利要求1所述的激光熔覆熔覆层致密度测量方法,其特征在于,在步骤五中,将所述试样放在盛有玉米油的半开口烧杯的杯口,置于真空干燥箱内进行干燥以及真空处理30分钟。
6.根据权利要求1所述的激光熔覆熔覆层致密度测量方法,其特征在于,轻拍真空干燥箱,从而将所述试样倒入所述烧杯内,采用吸油纸对所述试样进行表面去油处理。
7.根据权利要求1所述的激光熔覆熔覆层致密度测量方法,其特征在于,Δm=m2-m1。
8.根据权利要求1所述的激光熔覆熔覆层致密度测量方法,其特征在于,玉米油的常温状态下密度ρ=0.9192g/cm3;ΔV=Δm/ρ。
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