[发明专利]导致产品缺陷的生产设备的确定方法及设备

说明书

本发明实施例提供一种导致产品缺陷的生产设备的确定方法及设备，该方法包括：接收用户输入的目标产品信息；根据所述目标产品信息查询品质管理系统，确定与目标产品对应的目标缺陷；根据所述目标产品信息查询生产管理系统，确定与所述目标产品对应的生产工艺信息；根据所述生产工艺信息确定导致所述目标缺陷的目标设备信息。本发明实施例能够提高确定导致产品缺陷的生产设备的效率。

技术领域

本发明实施例涉及显示领域，尤其涉及一种导致产品缺陷的生产设备的确定方法及设备。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)的生产需要经过多个工艺步骤，在生产过程中，制备的LCD可能会产生各种缺陷。确定导致LCD缺陷的生产设备对LCD的生产至关重要。

目前，生产管理系统负责生产线的管理和控制，存储实际生产过程中的生产数据，品质管理系统负责把控工艺品质，存储生产过程中的品质数据。通常由工作人员根据生产管理系统中的数据和品质管理系统中的数据人工查找产品缺陷和导致产品缺陷的生产设备。

然而，由于生产管理系统中的数据和品质管理系统中的数据量非常大，发明人发现，这种人工确定导致产品缺陷的生产设备的方法效率很低。

发明内容

本发明实施例提供一种导致产品缺陷的生产设备的确定方法及设备，能够确定生产过程中导致产品缺陷的生产设备，提高效率。

第一方面，本发明实施例提供一种导致产品缺陷的生产设备的确定方法，包括：

接收用户输入的目标产品信息；

根据所述目标产品信息查询品质管理系统，确定与目标产品对应的目标缺陷；

根据所述目标产品信息查询生产管理系统，确定与所述目标产品对应的生产工艺信息；

根据所述生产工艺信息确定导致所述目标缺陷的目标设备信息。

在第一种可能的实现方式中，所述目标产品为由第一液晶基板切割而成的第一液晶面板；所述目标缺陷为由掩膜板导致的划伤；

所述生产工艺信息包括所述第一液晶基板的切割信息，以及所述第一液晶基板各位置与掩膜板的第一对应关系；

所述根据所述生产工艺信息确定导致所述目标缺陷的目标设备信息，包括：

根据所述第一液晶基板的切割信息确定切割前所述第一液晶面板在所述第一液晶基板中的第一位置信息；

根据所述第一位置信息查询所述第一对应关系，确定导致所述第一液晶面板上的划伤的目标掩膜板。

在第二种可能的实现方式中，根据所述目标设备信息查询所述生产管理系统，确定与目标设备对应的生产产品信息，并将所述生产产品信息发送至用户终端。

在第三种可能的实现方式中，所述目标产品为具有N层膜结构的产品，其中，N为大于1的整数；

还包括：

根据所述目标产品信息查询所述品质管理系统，分别确定所述目标产品的第i层膜结构中的检测缺陷的缺陷位置和第i-1层膜结构中的检测缺陷的缺陷位置，所述第i层膜结构中的检测缺陷的缺陷位置包括所述第i-1层膜结构中的检测缺陷的缺陷位置，其中，i＝2，3，…N；

去除所述第i层膜结构中与所述第i-1层膜结构中重合的检测缺陷的缺陷位置，得到所述第i层膜结构中的目标缺陷的缺陷位置；

将所述目标缺陷的缺陷位置发送至用户终端。

结合第三种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中，还包括：

确定与所述第i层膜结构匹配的目标修补设备，并将所述目标修补设备发送至所述用户终端。