[发明专利]一种荧光量子产率测试仪及其测试方法在审
申请号: | 201910032496.3 | 申请日: | 2019-01-14 |
公开(公告)号: | CN109781681A | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
发明(设计)人: | 张伟;邹贤劭 | 申请(专利权)人: | 广州大学 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 雷芬芬 |
地址: | 510006 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光器 产率 量子 激光光源系统 荧光量子产率 聚焦透镜 测试仪 调节杆 中性滤光片 光斑调节 固定架 导轨 光强 可调 光学收集系统 积分球系统 上移动 检测 测试 | ||
1.一种荧光量子产率测试仪,其特征在于,包括:激光光源系统、光强光斑调节系统、积分球系统和光学收集系统;
所述激光光源系统包括:激光器固定架(1)和激光器(2);所述激光器(2)固定在激光器固定架(1)上;
所述光强光斑调节系统包括:可调光学中性滤光片(3)、聚焦透镜(4)、调节杆(5)和导轨(6);
所述可调光学中性滤光片(3)位于激光光源系统的激光器(2)的正下方,所述聚焦透镜(4)和调节杆(5)连接,所述调节杆(5)调节聚焦透镜(4)在导轨(6)上移动;
所述荧光量子产率测试仪还包括:金属盒(7);所述金属盒(7)的一侧开设有滤光片旋转开口(8)和聚焦透镜调节开口(9),所述可调光学中性滤光片(3)的尾端伸出滤光片旋转开口(8),所述调节杆(5)的尾端伸出聚焦透镜调节开口(9);
所述积分球系统的顶部设置有开口;所述聚焦透镜(4)正对开口,所述积分球系统一侧开设有出射口(19),光学收集系统和出射口(19)在同一水平线上。
2.根据权利要求1所述的荧光量子产率测试仪,其特征在于,所述积分球系统包括:外壳(14);所述外壳(14)包括前半部和后半部,前半部和后半部通过阀门锁(15)进行密封固定;所述外壳(14)内表面为涂覆层(18),所述外壳(14)的内部形成一个圆形空腔;
所述积分球系统的底部设置有载物平台(11),所述载物平台(11)在聚焦透镜(4)的正下方;所述载物平台(11)涂覆有与涂覆层(18)相同的覆盖材料;
所述积分球系统内设置有光学阻挡板(17),所述光学阻挡板的表面涂覆有与涂覆层(18)相同的覆盖材料,出射口(19)和光学阻挡板(17)位于同一侧。
3.根据权利要求1或2所述的荧光量子产率测试仪,其特征在于,所述光学收集系统包括:依次水平排列的准直透镜(20)、滤光片(21)、聚焦透镜(22)和用于与光谱仪(24)或光纤连接的接口(23);
所述准直透镜(20)的中心、滤光片(21)的中心、聚焦透镜(22)的中心和接口(23)的中心、出射口(19)的中心均位于同一中心线。
4.根据权利要求2所述的荧光量子产率测试仪,其特征在于,所述金属盒(7)的底边和积分球系统的外壳(14)接触,当聚焦透镜(4)被调节到最下面时,聚焦透镜(4)位于所述积分球系统顶部的开口内。
5.根据权利要求2所述的荧光量子产率测试仪,其特征在于,所述覆盖材料为硫酸钡。
6.根据权利要求2所述的荧光量子产率测试仪,其特征在于,所述硫酸钡的反射率为90%。
7.一种荧光量子产率测试仪的测试方法,其特征在于,包括:
S1,在载物平台(11)上放待测样品时,开启荧光量子产率测试仪测试激发光子数Nex0和发射光子数Nem0;
S2,在载物平台(11)上放待测样品,开启荧光量子产率测试仪测试激发光子数Nex’和发射光子数Nem’;
S3,根据计算公式,计算待测样品的量子产率,计算公式为:
其中,Nabs=Nex0-Nex’,Nem=Nem’-Nem0。
8.根据权利要求1所述的荧光量子产率测试仪的测试方法,其特征在于,步骤S1之前包括:
将荧光量子产率测试仪的激光光源系统换成标准灯源;
开启荧光量子产率测试仪进行校准。
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