[发明专利]一种宽光谱半导体有源器件及其制造方法有效
申请号: | 201910033423.6 | 申请日: | 2019-01-14 |
公开(公告)号: | CN109755363B | 公开(公告)日: | 2020-05-19 |
发明(设计)人: | 云峰;苏喜林;李虞锋;张敏妍;郭茂峰;李琨;赵丁 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | H01L33/06 | 分类号: | H01L33/06;H01L33/02;H01L33/32;H01L33/00 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 710049 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光谱 半导体 有源 器件 及其 制造 方法 | ||
1.一种宽光谱半导体有源器件,其特征在于,包括外延基底(100)和形成于外延基底(100)上的多层半导体结构;其中,
多层半导体结构包括依次形成于外延基底(100)上的第一半导体层(200)、有源层(301)、电子阻挡层(400)、第二半导体层(500),以及分别与第一半导体层(200)和第二半导体层(500)直接或间接电连接的第一电极(600)和第二电极(700);
有源层(301)包含多量子阱结构或多层量子点结构(302),且多量子阱结构或多层量子点结构(302)的周期数为10~30周期;且有源层(301)包含多级调制结构层;调制结构位于多量子阱结构与第一半导体层(200)之间,每一级的调制结构层包含缺陷层和修复层;缺陷层主动制造材料位错,并释放底层穿透位错,厚度小于50nm,修复层用于为修复缺陷层对材料的影响,重新调制位错分布及在有源层形成倒六角锥图形,厚度100nm~300nm。
2.根据权利要求1所述的一种宽光谱半导体有源器件,其特征在于,第一半导体层(200)为N型半导体,第二半导体层(500)为P型半导体。
3.根据权利要求1所述的一种宽光谱半导体有源器件,其特征在于,多量子阱结构或多层量子点结构(302)由多个单波长量子阱层或量子点组成。
4.根据权利要求1所述的一种宽光谱半导体有源器件,其特征在于,多级调制结构层为1~3级;电子阻挡层(400)与第一级调制结构层形成的倒六角锥图形在有源层存在交叉的区域,称之为第一波长调制区(305),第二级对应的第二波长调制区(306),第三级对应第三波长调制区;每一波长调制区可调控的量子阱周期数为1~8个,不同波长调制区能够重叠。
5.根据权利要求1所述的一种宽光谱半导体有源器件,其特征在于,有源层(301)不同波长量子阱按一定生长次序,且在小于50nm的波长范围,量子阱反复交叉重现。
6.权利要求1至5中任一项所述的一种宽光谱半导体有源器件的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S1,制作外延结构
外延基底(100)为Si衬底、SiC衬底、ALN衬底、GaN衬底或Sapphire中的一种,采用MOCVD或MBE外延技术,在外延基底(100)上外延生长所需外延结构,包括:第一半导体层(200),厚度为2um~10um,有源层(301),以及第二半导体层(500),厚度为50nm~200nm;
步骤S2,在第二半导体层(500)上制作第二电极(700),第二电极(700)包含反光镜和键合衬底,反光镜为对辐射波长反射材料制成,厚度为150nm~300nm,键合衬底为Si衬底或金属衬底,厚度为100um~300um;
步骤S3,暴露出全部或部分第一半导体层(200),作为制作第一电极(600)的接触层;
步骤S4,在暴露的第一半导体层(200)的电接触层位置上制作第一电极(600),采用热蒸发或电子束蒸发方法,制作第一电极(600),第一电极(600)为Al/Au结构、其中Al的厚度为50nm~1um,Au的厚度为0.5um~1.5um。
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