[发明专利]基于相位条纹的码相位测量方法有效

专利信息
申请号: 201910035970.8 申请日: 2019-01-15
公开(公告)号: CN109856650B 公开(公告)日: 2020-11-13
发明(设计)人: 王兆瑞;傅圣友;翟宇霄;金声震;艾国祥 申请(专利权)人: 中国科学院国家天文台
主分类号: G01S19/30 分类号: G01S19/30
代理公司: 北京律谱知识产权代理事务所(普通合伙) 11457 代理人: 李砚明
地址: 100012 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 相位 条纹 测量方法
【权利要求书】:

1.一种基于相位条纹的码相位测量方法,包括:

步骤1)、选取接收机射频前端下变频的中频信号,以及跟踪环路进入稳定跟踪状态后的本地复制载波和本地复制码;

步骤2)、对所述中频信号和本地复制载波滤除载波和多普勒频移,得到接收输入信号;将本地复制码作为本地输入信号;

步骤3)、计算接收输入信号和本地输入信号的互功率谱相位,生成相位条纹;

步骤4)、从相位条纹中求取条纹频率,得到所述接收输入信号与本地输入信号的间隔时延,从而得到码相位测量值。

2.根据权利要求1所述的基于相位条纹的码相位测量方法,其特征在于,在步骤2)和步骤3)之间还包括对本地输入信号做时延补偿的步骤,以及所述步骤4)中还包括为接收输入信号与本地输入信号的间隔时延减去补偿的时延量的操作。

3.根据权利要求2所述的基于相位条纹的码相位测量方法,其特征在于,在所述时延补偿的步骤之后还包括:为所述接收输入信号以及经过时延补偿的本地输入信号做时域折叠,得到高信噪比的接收输入信号和高信噪比的本地输入信号;

以及在所述3)中,计算所述高信噪比的接收输入信号和高信噪比的本地输入信号的互功率谱相位,从而得到相位条纹。

4.根据权利要求1所述的基于相位条纹的码相位测量方法,其特征在于,在步骤2)和步骤3)之间还包括:为所述接收输入信号以及所述本地输入信号做时域折叠,得到高信噪比的接收输入信号和高信噪比的本地输入信号;

以及在所述3)中,计算所述高信噪比的接收输入信号和高信噪比的本地输入信号的互功率谱相位,从而得到相位条纹。

5.根据权利要求3或4所述的基于相位条纹的码相位测量方法,其特征在于,所述时域折叠包括:

将接收输入信号、本地输入信号或经过时延补偿的本地输入信号分别均分为n段;

将接收输入信号的每段数据叠加求和,得到高信噪比的接收输入信号;将本地输入信号或经过时延补偿的本地输入信号的每段数据叠加求和,得到高信噪比的本地输入信号。

6.根据权利要求1或2或3或4所述的基于相位条纹的码相位测量方法,其特征在于,所述步骤3)具体包括:

设一路信号为f1(t),另一路信号为f2(t),对这两路信号分别进行傅立叶变换,得到

则两路信号的互功率谱密度为:

其中,*表示复数共轭;

功率谱相位为复数S12(ω)的辐角主值:

φ(ω)=arg[S12(ω)];

其中,所述一路信号为接收输入信号,或高信噪比的接收输入信号;所述另一路信号为本地输入信号,或经过时延补偿的本地输入信号,或高信噪比的本地输入信号。

7.根据权利要求1或2或3或4所述的基于相位条纹的码相位测量方法,其特征在于,在步骤4)中,对相位条纹做傅里叶变换来求取条纹频率。

8.一种基于相位条纹的码相位测量装置,其特征在于,包括:

信号接收与选取模块,用于选取接收机射频前端下变频的中频信号,以及跟踪环路进入稳定跟踪状态后的本地复制载波和本地复制码;

滤波与多普勒频移模块,用于对所述中频信号和本地复制载波滤除载波和多普勒频移,得到接收输入信号;将本地复制码作为本地输入信号;

互功率谱相位计算模块,用于计算接收输入信号和本地输入信号的互功率谱相位,生成相位条纹;

条纹频率求取模块,用于从相位条纹中求取条纹频率,得到所述接收输入信号与本地输入信号的间隔时延。

9.根据权利要求8所述的基于相位条纹的码相位测量装置,其特征在于,还包括时延补偿模块以及删除时延补偿量模块;其中,

所述时延补偿模块将信号接收与选取模块所输出的本地输入信号做时延补偿;

所述删除时延补偿量模块用于将条纹频率求取模块所输出的接收输入信号与本地输入信号的间隔时延减去补偿的时延量。

10.根据权利要求9所述的基于相位条纹的码相位测量装置,其特征在于,还包括时域折叠模块,该模块用于为所述接收输入信号以及经过时延补偿的本地输入信号做时域折叠,得到高信噪比的接收输入信号和高信噪比的本地输入信号;

以及在互功率谱相位计算模块中,计算所述高信噪比的接收输入信号和高信噪比的本地输入信号的互功率谱相位,从而得到相位条纹。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院国家天文台,未经中国科学院国家天文台许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910035970.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top