[发明专利]一种消炎药粒表面缺陷检测的方法

说明书

本发明公开了一种消炎药粒表面缺陷检测的方法,它包括以下步骤：第一步，获取药板中药粒图像，即通过彩色相机采集药粒图像；第二步，转化图像，即将第一步中采集的药粒图像转化成H₁S₁I₁图像；第三步，图像校正，参照模版位置对图像进行校正，生成新的图像；第四步，转化新的图像，即将第三步中的新生成的图像转换为H₂S₂I₂图像；第五步，药粒缺陷的筛选，即在第四步中的S₂图中筛选出药粒连通区域；第六步，药粒品质的评价，即将第五步中的药粒连通区域进行孔洞填充，再与原图相减，即可求出异物区域，通过异物区域与面积阈值(A2_Min，A2_Max)比较，判定药粒的品质。本发明的一种消炎药粒表面缺陷检测的方法，检测简单，方便快捷。

技术领域

本发明涉及药品检测领域，尤其涉及一种消炎药粒表面缺陷检测的方法。

背景技术

药品检测的检测项目众多，有药品质量检测、药品成分检测、药品重金属检测、药品不良反应检测、药品密封性检测、生物药品检测、药品外观检测、药品常规检测、药品理化检测、药品安全检测和药品缺陷检测。

药粒、药片在生产过程中会存在缺粒、半粒、药粒表面异物的不良现象。不良品流入市场对制药企业形象带来负面影响，目前主要采用人工观察的方式来检测，这种方法受人为主管因素影响，检测精度会受到人的疲劳和经验的影响。

发明内容

本发明的目的在于针对现有技术的不足而提供一种消炎药粒表面缺陷检测的方法，检测简单，方便快捷。

为达到上述目的，本发明通过以下技术方案来实现。

一种消炎药粒表面缺陷检测的方法，它包括以下步骤：

第一步，获取药板中药粒图像，即通过彩色相机采集药粒图像；

第二步，转化图像，即将第一步中采集的药粒图像转化成H₁S₁I₁图像；

第三步，图像校正，即第二步转换成的I₁图像中，在药板的右边缘设置n条高H、宽W的矩形检测区域，并求取各个矩形区域内灰度变化最大的点坐标集(X(n)，Y(n))，将该点坐标集通过霍夫变换拟合成直线进而求出右边缘线，并求出药板的右边边缘中心点坐标(X(0)，Y(0))，根据右边缘线的角度和中心点坐标，参照模版位置对图像进行校正，生成新的图像；

第四步，转化新的图像，即将第三步中的新生成的图像转换为 H₂S₂I₂图像；

第五步，药粒缺陷的筛选，即在第四步中的S₂图中，根据设定的检测区域提取药粒连通区域，将S₂图像进行二值化处理，得到二值化后的连通区域，用面积(A1_Min，A1_Max)和圆度(C1_Min，C1_Max)阀值筛选出药粒连通区域；

第六步，药粒品质的评价，即将第五步中的药粒连通区域进行孔洞填充，再与原图相减，即可求出异物区域，通过异物区域与面积阈值(A2_Min，A2_Max)比较，判定药粒的品质。

进一步的，所述第二步中的n为100、H为200mm、W为10mm。

进一步的，所述第五步中的面积阀值(A1_Min，A1_Max)和圆度阀值(C1_Min，C1_Max)分别为(28000,40000)和(0.8,1)。