[发明专利]电致发光样品夹具在审
申请号: | 201910039171.8 | 申请日: | 2019-01-16 |
公开(公告)号: | CN109633219A | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
发明(设计)人: | 张哲远;石鹏;张昊翔;孙玲 | 申请(专利权)人: | 蔚海光学仪器(上海)有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01M11/00 |
代理公司: | 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 | 代理人: | 杨楷;毛立群 |
地址: | 201108 上海市闵行区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电致发光 样品夹具 安装槽 安装座 固定盖 反光部件 夹具 开口 连接方式 相对旋转 通孔 测试技术领域 电致发光器件 电路连接 闭合时 对置 启闭 探针 正对 反射 穿过 测试 吸收 | ||
本发明涉及电致发光器件测试技术领域,特别涉及一种电致发光样品夹具包括:固定盖和安装座,固定盖以可相对旋转的连接方式安装于安装座,从而启闭所述电致发光样品夹具,固定盖上形成有开口安装座上设置有用于安装电致发光样品的安装槽,安装槽与开口对置地设置,安装槽内设置有多个通孔,探针能够穿过通孔而与电致发光样品的电路连接;在安装槽的槽底设置反光部件,当电致发光样品夹具闭合时,反光部件正对开口。本发明提供的电致发光样品夹具的固定盖和安装座以可相对旋转的连接方式,并通过设置在安装槽内的反光部件,对电致发光样品发出的光线进行反射,减少被夹具吸收的光线,从而提高夹具的测试精度。
技术领域
本发明涉及电致发光器件测试技术领域,特别涉及一种电致发光样品夹具。
背景技术
电致发光器件是一种继无机半导体发光二极管之后的一种新型光源。不同于传统的无机半导体发光二极管,其使用有机薄膜材料作为发光材料,通过化学合成不同的有机材料可以使得器件得到不同颜色的出射光。其次,电致发光器件是面发光器件,可以在不使用任何外加部件的情况下实现大面积均匀发光。再次,其具有轻薄、可柔性化的特点。该技术可以用于军事、医疗、工程、娱乐和教育等众多领域,成为当前世界上照明显示技术领域研究的一个热点。
电致发光器件通常制作于玻璃、塑料片、钢片等基板上,其中以玻璃基板最为常用。器件结构通常是在阳级和阴极之间夹有两层或多层有机材料,其中阳极或阴极中至少有一个可以透过可见光。当在器件阳极和阴极上加上电源之后,空穴和电子分别从阳极和阴极注入器件中,并最终复合发光。
在电致发光器件的研制过程中,对器件特性进行测试是一项必不可少的工序。通过分析电致发光器件的特性,可以研究器件的工作机理,对比器件性能的优劣,对器件进行优化研究。由于器件的阳极和阴极制作于基板上,和普通测试设备的接口不兼容,需要设计特定夹具,将电致发光器件的电极和测试设备的接口进行连接,因此,设计简单实用的夹具对于研究和工业生产电致发光器件都有着重要的意义。
通常需要将电致发光器件与测试用的夹具电连接,并将电致发光器件发出的光线导入测试系统中。其中,固定电致发光器件通常采用螺丝杆连接,操作较为繁琐。更重要的是,由于夹具通常为黑色且反射系数比较低,会吸收部分光线,因此对测试结果产生影响,导致对电致发光器件的测试的误判。
发明内容
本发明是鉴于上述问题而提出的,其目的在于提供一种电致发光样品夹具,通过在电致发光样品夹具内设置反光部件,从而减少光线的损耗,使得用于测试的光线更加充足从而提高测试精度
根据本发明,电致发光样品夹具包括:固定盖和安装座,固定盖以可相对旋转的连接方式安装于安装座,固定盖上形成有开口;安装座上设置有用于安装电致发光样品的安装槽,安装槽与开口对置地设置,安装槽内设置有多个通孔,探针能够穿过通孔而与电致发光样品的电路连接;在安装槽的槽底设置有反光部件,当电致发光样品夹具闭合时,反光部件正对开口。
相较于现有技术而言,本发明提供的电致发光样品夹具的固定盖和安装座以可相对旋转的连接方式,将电致发光样品固定于固定盖与安装座之间的安装槽中,同时向电致发光样品供电即可使样品发光。并通过设置在安装槽内的反光部件,对电致发光样品发出的光线进行反射,减少被夹具吸收的光线,从而提高夹具的测试精度。
作为优选,反光部件为白色,反光部件的材料为漫反射材料。
漫反射材料能够更好地反射电致发光样品发出的光线,从而大幅减少电致发光样品夹具吸收的光线,使得更充足的光线进入后续的测试仪器中,提高测试的真实性,确保电致发光样品测试的精度。
另外,作为优选,反光部件中的与固定盖相对的一面形成为镜面。
反光部件形成为镜面,能够将光线反射而大幅减少电致发光样品夹具吸收的光线,从而使得电致发光样品发出的光线进入后续的测试仪器的光线更加充足,提高测试的真实性,确保电致发光样品测试的精准度。
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