[发明专利]电子设备及记录介质

说明书

本发明的电子设备及记录介质早期且理智地判断是否满足产品保证期间。系统控制部在将写入保证值设为(Wmax)、将写入总量设为(Wsum)、将差的每单位期间的平均值设为(Ave.)、将每单位期间的写入预测量设为(Wref)、将剩余保证期间设为(Dremain)时，通过运算(Dremain)＝[(Wmax)‑(Wsum)]/[(Ave.)+(Wref)]求出剩余保证期间，并在将经过期间设为(Dpast)、将使用可能预测期间设为(Dprediction)时，通过运算(Dprediction)＝(Dpast)+(Dremain)求出使用可能预测期间，在将非易失性存储器保证的保证期间设为(Dguarantee)时，在(Dprediction)<(Dguarantee)的情况下判断为超量写入。由此，能够在使用可能预测期间(Dprediction)不满保证期间(Dguarantee)的情况下判断为超量写入。

技术领域

本发明涉及适于非易失性存储器的管理的电子设备及记录介质。

背景技术

例如，在作为电子设备之一的、复合机等MFP(Multifunction Peripheral，多功能打印机)即图像形成装置中，存在能够搭载HDD(Hard Disk Drive，硬盘驱动器)、SSD(SolidState Drive，固态硬盘)、SD(Secure Digital Card，安全数字卡)卡、NOR闪存、NAND闪存等非易失性存储器的机种。

然而，在是这些非易失性存储器中的HDD、和SSD的情况下，搭载有称为S.M.A.R.T.(Self-Monitoring，Analysis and Reporting Technology，自我检测分析与报告技术)的自我诊断功能。另外，在是搭载有自我诊断功能的非易失性存储器的情况下，通过使用SATA(Serial Advanced Technology Attachment，串行高级技术附件)接口，能够获得被称为TBW(Tera Byte Written，万亿字节写入)的表示写入了几万亿字节的数据的写入量。

相对于此，在是SD卡、NOR闪存、NAND闪存等非易失性存储器的情况下，由于未搭载有称为S.M.A.R.T.的自我诊断功能，因此，不能获得称为TBW的写入保证值。这样，在不能获得写入保证值的情况下，检测非易失性存储器的寿命就变得困难。另外，若不能获得写入保证值的非易失性存储器在使用过程中达到了寿命，则有时图像形成装置不能正常地工作。

为了消除这样的不理想情况，典型的技术中，存在如下的数据存储控制装置：由计数部件，以分区单位，对针对写入保证值表示的保证次数较少的第1非易失性存储器的数据写入次数进行计数，若应该写入数据的第1非易失性存储器的分区的写入次数超过规定次数，则由控制部件将需要写入的数据存储到改写保证次数较多的第2非易失性存储器。

发明内容

发明要解决的问题

在上述的典型的技术中的数据存储控制装置中，以分区单位，对针对改写保证次数较少的第1非易失性存储器的数据写入次数进行计数，在第1非易失性存储器达到寿命之前，将数据向改写保证次数较多的第2非易失性存储器写入，因此，能够确保数据的可靠性。

然而，对于SD卡、NOR闪存、NAND闪存等非易失性存储器的寿命，根据产品保证年数能够某种程度地进行预测。但是，由于数据的改写次数、数据的写入量、数据的写入间隔等使用条件不同，非易失性存储器的寿命也会发生变化。

因此，如典型的技术中的数据存储控制装置那样，若仅以第1非易失性存储器的分区的写入次数对第1非易失性存储器的寿命进行检测，则不能在写入次数超过规定次数之前检测出第1非易失性存储器的寿命。这样，若不能在写入次数超过规定次数之前检测出第1非易失性存储器的寿命，则存在不能早期预测成为不满足产品保证年数的状态这一情况的问题。

本发明是鉴于这样的情况而完成的，其目的在于，提供能够解决上述问题的电子设备及记录介质。

解决问题的方案