[发明专利]一种应用于球面弯晶制作的夹持工具及制作方法

说明书

本发明涉及一种应用于球面弯晶制作的夹持工具及制作方法，所述夹持工具包括套筒组件、外部金属夹持件和螺旋测微器，所述外部金属夹持件为一半框形结构，所述套筒组件夹持于外部金属夹持件的半框内，所述螺旋测微器与套筒组件连接，其中，所述套筒组件包括：金属套筒，用于容纳球面基座和晶体材料，金属套筒上连接有金属抽气嘴；金属底座和金属压块，设置于所述金属套筒两端，且接触所述球面基座；金属垫块，设置于金属压块和外部金属夹持件间，并与螺旋测微器连接。与现有技术相比，本发明具有简单可靠、成本低等优点，保证了最终光学元件的光学分辨率。

技术领域

本发明涉及一种球面弯晶制作仪器，尤其是涉及一种应用于球面弯晶制作的夹持工具及制作方法。

背景技术

球面弯晶制作仪器是对晶体材料进行精加工的重要仪器和设备，是将两块曲率半径相同的球面基座以及晶体材料压弯并紧密贴合的仪器。球面弯晶在加工制作过程中需要将晶体材料压弯到球面形状，并且晶体各处的曲率半径都均匀统一，否则在后续弯晶使用过程中其分辨率将会大大下降。目前通常使用的技术是用透明的粘合剂对所需的晶体和球形基座之间进行粘合，优点是比较牢固，但缺点却很明显，如厚度均匀性存在一定差异，造成面型失谐等。此外利用紫外固化光胶进行粘合时上下面必须有一面保持透光，才能使用紫外光进行固化，这也限制了制作工具的加工。

发明内容

本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种应用于球面弯晶制作的夹持工具及制作方法。

本发明的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种应用于球面弯晶制作的夹持工具，包括套筒组件、外部金属夹持件和螺旋测微器，所述外部金属夹持件为一半框形结构，所述套筒组件夹持于外部金属夹持件的半框内，所述螺旋测微器与套筒组件连接，其中，所述套筒组件包括：

金属套筒，用于容纳球面基座和晶体材料，金属套筒上连接有金属抽气嘴；

金属底座和金属压块，设置于所述金属套筒两端，且接触所述球面基座；

金属垫块，设置于金属压块和外部金属夹持件间，并与螺旋测微器连接。

进一步地，所述金属套筒包括套筒本体和用于连接所述金属抽气嘴的气孔。

进一步地，所述气孔设有多个，多个气孔均匀间隔设置。

进一步地，所述金属套筒的内径与所述球面基座的直径相同，且成正公差。

进一步地，所述金属底座和金属压块均为柱状两级台阶块，内台阶的直径与所述球面基座的直径相同，且成负公差，外台阶的直径与所述金属套筒的外径相同。

进一步地，所述金属垫块中心设置有用于对准所述螺旋测微器的压头的第一凹槽。

进一步地，所述外部金属夹持件的底部设有用于容纳所述金属底座的第二凹槽，顶部设有用于穿过所述螺旋测微器的通孔。

进一步地，该夹持工具边缘处设置有45°倒角。

进一步地，所述金属套筒、外部金属夹持件和金属抽气嘴均采用不锈钢材质，所述金属底座、金属压块和金属垫块均采用黄铜材质。

本发明还提供一种利用所述的夹持工具的球面弯晶制作方法，该方法包括以下步骤：

1)将金属底座放置于平台上，将平凹基座放置于金属底座上，平凹基座的平面向下，凹面向上；

2)将晶体材料置于所述凹面上，再将平凸基座的凸面扣压在晶体材料上；

3)金属套筒从上至下套入步骤2)获得的结合体上，直至金属底座没入金属套筒内；

4)将金属压块从上至下放入金属套筒内部直至接触到所述平凸基座的平面端；